发明创造名称：具有补偿技术和/或共享级资源的显示系统
外观设计名称：
决定号：200487
决定日：2020-01-13
委内编号：1F278185
优先权日：2013-04-24，2013-05-09，2013-05-24，2014-03-13，2014-04-08
申请（专利）号：201480036145.5
申请日：2014-04-23
复审请求人：伊格尼斯创新公司
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：彭海良
合议组组长：王玮玮
参审员：李文斐
国际分类号：G09G3/00,G09G3/3208
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第2款
决定要点
：如果一项权利要求的技术特征没有被作为最接近现有技术的对比文件实质上完全公开，则该权利要求具备新颖性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201480036145.5，名称为“具有补偿技术和/或共享级资源的显示系统”的PCT发明专利国际申请（下称本申请）。申请人为伊格尼斯创新公司。本申请的申请日为2014年04月23日，最早优先权日为2013年04月24日，进入中国国家阶段日为2015年12月24日，公开日为2016年03月09日。
经实质审查，国家知识产权局专利实质审查部门于2018年12月18日发出驳回决定，驳回了本申请，其理由是：权利要求1-5不具备专利法第22条第2款规定的新颖性。驳回决定中引用以下对比文件：
对比文件1：US 2008231558A1，公开日为2008年09月25日。
驳回决定所依据的文本为：2018年08月13日提交的权利要求第1-5项、2018年01月25日提交的说明书第1-57页、说明书附图第1-29页、以及进入中国国家阶段日2015年12月24日提交的说明书摘要和摘要附图。
驳回决定所针对的权利要求书如下：
“1. 一种显示面板，所述显示面板允许测量对所述显示面板中的像素的影响，所述显示面板包括：
用来在图像显示工作条件下显示图像的多个有源像素；
包括在显示区内的多个参考像素；
读出电路，所述读出电路连接至所述有源像素和所述参考像素以用于当所述像素被供给有已知的输入信号时从所述像素读取电流、电压和电荷中的至少一者，生成测量数据；和
控制器，所述控制器连接到所述多个参考像素中的每一者和所述多个有源像素中的每一个，并被配置为：
控制所述参考像素，使得所述参考像素随着时间的推移在所述显示面板上受到全局影响，并不因老化而产生实质性的改变；
通过从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响，校正来自所述参考像素的所述测量数据，生成经校正的来自所述参考像素的测量数据；
使用所述经校正的来自所述参考像素的测量数据，修正来自所述有源像素的所述测量数据；以及
基于经修正的数据，补偿提供给所述有源像素的信号。
2. 如权利要求1所述的系统，其中，所述全局影响包括温度影响。
3. 如权利要求1所述的系统，其中，所述全局影响对所述有源像素和所述参考像素都产生影响，且其中，所述控制器被进一步配置为从来自所述参考像素的所述读出值确定所述全局影响的所述影响。
4. 如权利要求3所述的系统，其中，通过对来自所述参考像素的读出值求取平均来确定所述全局影响的所述影响。
5. 如权利要求3所述的系统，其中，通过对来自所述参考像素内的 一组主像素的读出值求取平均来确定所述全局影响的所述影响。”
其中驳回决定中指出：对比文件1中的参考像素632的电流平均值Irx相当于权利要求1中的全局影响的影响，DIcor相当于权利要求1中的温度校正值，Ir相当于权利要求1中的参考像素电流值，公式DIcor=Ir-Irx相当于公开了权利要求中的“通过从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响，校正来自所述参考像素的所述测量数据，生成经校正的来自所述参考像素的测量数据”；因此对比文件1相当于已经公开了权利要求1-5的全部技术特征，权利要求1-5均不具备专利法第22条第2款规定的新颖性。
申请人（下称复审请求人）对上述驳回决定不服,于2019年04月02日向国家知识产权局提出了复审请求，未修改申请文件，复审请求人认为：（1）对比文件1中的初始测量值Ir不会受到环境温度的影响，因此对比文件1中的初始测量值Ir与权利要求1中来自参考像素的测量数据不同；（2）对比文件1中的DIcor不能对应于权利要求1中经校正的来自参考像素的测量数据；DIcor应当对应权利要求1中“全局影响的影响”；（3）对比文件1中的“the temperature correction DIcor”应理解为值DIcor是用于校正由于温度导致的影响的值，而并非理解为DIcor本身是经过校正的测量数据；对比文件1中仅记载了DIcor等于Irx-Ir,而并未记载DIcor等于Ir-Irx；（4）目的和效果不同：对比文件1的目的是使用来自参考像素的电流确定有环境温度变化导致的影响DIcor, 从而直接从老化子像素电流中减去环境温度影响的特征，而权利要求1从来自参考像素的电流中减去环境温度变化导致的影响以校正来自参考像素的电流，从而使用已经减去了全局影响的经校正的参考电流来修正老化子像素电流；（5）对比文件1中没有提到使用已经根据来自老化子像素的测量数据而确定的数量本身来校正老化子像素的电流。
经形式审查合格，国家知识产权局于2019年04月08日依法受理了该复审请求，并将其转送至原专利实质审查部门进行前置审查。
原专利实质审查部门在前置审查意见书中坚持驳回决定。
随后，国家知识产权局成立合议组对本案进行审理。
在上述程序的基础上，合议组认为本案事实已经清楚，可以作出审查决定。
二、决定的理由
审查文本的认定
复审请求人在复审阶段未修改申请文件，本复审请求审查决定所针对的文本与驳回决定针对的文本相同。即：2018年08月13日提交的权利要求第1-5项、2018年01月25日提交的说明书第1-57页、说明书附图第1-29页、以及进入中国国家阶段日2015年12月24日提交的说明书摘要和摘要附图。
关于新颖性
专利法第22条第2款规定：新颖性，是指该发明或者实用新型不属于现有技术；也没有任何单位或者个人就同样的发明或者实用新型在申请日以前向国务院专利行政部门提出过申请，并记载在申请日以后公布的专利申请文件或者公告的专利文件中。
如果一项权利要求的技术特征没有被作为最接近现有技术的对比文件实质上完全公开，则该权利要求具备新颖性。
具体到本案：
权利要求1请求保护一种显示面板，对比文件1公开了一种有源矩阵OLED显示面板，并具体公开了如下技术内容（参见说明书第[0043]-[0078]段，附图4A-9B）：OLED显示面板能够测量像素的老化程度（即显示面板允许测量对显示面板中的像素的影响），显示面板包括能够老化的有源子像素120，相当于用来在图像显示工作条件下显示图像的多个有源像素（参见附图4A）；也包括在显示区内的多个参考像素632（参见说明书第[0070]段，附图6），当将参考电压（Vdd-Vss）施加到参考子像素632和老化的有源子像素时，能够测量得到参考子像素632的平均参考子像素电流Irx和老化的有源子像素的电流Ipx，因此该显示面板必然具有测量有源像素120和参考像素632电流值的电路模块（相当于具有读出电路，连接至所述有源像素和所述参考像素以用于当所述像素被供给有已知的输入信号时从所述像素读取电流、电压和电荷中的至少一者，生成测量数据）；校准引擎402和老化校正电路408（其组合相当于控制器）通过信号线连接到多个参考像素中的每一者和所述多个有源像素中的每一个，参考像素632不会出现老化现象，而仅受环境温度影响改变其参考电流值（参见说明书第[0071]段）（即控制所述参考像素，使得所述参考像素随着时间的推移在所述显示面板上受到全局影响，并不因老化而产生实质性的改变）；附图9B的方法由校准引擎402执行；老化像素和非老化像素均经受相同的环境温度变化（即全局影响）；测量参考像素632的电流平均值Irx，DIcor值代表仅受环境温度影响变化的参考像素632的像素电流变化值，DIcor=Irx-Ir，Ir为实验室中室温环境下测量的参考像素电流值平均值（参见说明书第[0055]和[0071]段），测量老化像素的电流值Ipx，通过公式Icorpx=Ipx-DIcor来获得温度校正后的老化像素的电流值Icorpx，Icorpx是不受环境温度变化影响的老化像素的电流测量值，根据电流比例Icorpx/Ir确定老化像素的老化值，根据该老化值选择适当的老化曲线LUT编号，校准引擎402和老化校正电路408更新校正LUT456表，从而对显示面板中发生老化现象的像素120进行补偿。
驳回决定及前置意见中认为：
本申请中全局影响的影响指的是参考像素值的平均值，而对比文件1中也均存在参考像素的平均值Irx，Ir代表的是最初时刻的参考像素的电流测量值，DIcor=Irx-Ir，且DIcor有正有负，因此上述公式也可以表达为DIcor=Ir-Irx，即代表从来自参考像素的测量数据中减去全局影响的影响。因此DIcor是经校正的来自参考像素的测量数据，而不是如申请人所认为的仅仅是全局影响的影响。根据对比文件1说明书第[0072]段的记载可知，通过公式Icorpx=Ipx-DIcor来获得温度校正后的老化像素的电流值Icorpx，Icorpx是不受环境温度变化影响的老化像素的电流测量值，即，使用经校正的来自参考像素的测量数据，修正来自经受了相同温度影响后的老化了的有源像素的测量数据（即Icorpx相当于权利要求1中经修正的数据）。因此，电流平均值Irx相当于权利要求1中的全局影响的影响，DIcor相当于权利要求1中的经校正的来自参考像素的测量数据，Ir相当于权利要求1中的参考像素电流值，从而“通过从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响，校正来自所述参考像素的所述测量数据，生成经校正的来自所述参考像素的测量数据”特征已经被对比文件1所公开。
对此，合议组认为：
首先，本申请通过“从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响”从而使得校正后的参考像素的测量数据不包含全局影响的影响，采用的技术手段是：从参考像素减去全局现象的影响，从而当通过参考值对像素测量值进行修正时，像素值中的全局影响将保持不变（参见本申请说明书第[0117]段）,在权利要求1中体现为“通过从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响，校正来自所述参考像素的所述测量数据，生成经校正的来自所述参考像素的测量数据，使用所述经校正的来自所述参考像素的测量数据，修正来自所述有源像素的所述测量数据，基于经修正的数据，补偿提供给所述有源像素的信号”。
而对比文件1通过将参考子像素的平均参考子像素电流Irx（即温度变化后测量的参考子像素的平均电流 ）减去初始时间参考子像素的平均电流Ir（即在标准温度测量的参考子像素的平均电流），从而得到由于温度变化而引起的参考子像素电流的变化DIcor，然后从老化子像素的测量电流Ipx中减去上述DIcor，从而得到去除温度变化影响的老化子像素校正电流值Icorpx，由于此时Icorpx不受温度变化的影响，从而仅受老化程度的影响，因此利用Icorpx/Ir从而能够确定老化子像素的老化程度，从而能够进行相应的补偿。
可见，对比文件1中是老化子像素的测量电流减去由于温度变化而引起的参考子像素电流的变化DIcor（即减去温度变化的影响），而本申请中参考值对像素测量值进行修正时，像素值中的全局影响将保持不变，二者的目的、构思和具体执行手段均不同，对比文件1中的Ir代表的是最初时刻的参考像素的电流测量值，也就是说对比文件1中的Ir并不受温度的影响，即其并不包含全局影响的影响，因此对比文件1中的Ir与权利要求1中的校正前的来自参考像素的测量数据为不同的物理量，物理意义不同，对比文件1中的初始时间参考子像素的平均电流Ir不能对应于本申请中的参考像素的测量数据，因此“通过从来自所述参考像素的所述测量数据中减去全局影响的影响，校正来自所述参考像素的所述测量数据，生成经校正的来自所述参考像素的测量数据”特征并未被公开。
因此，综合以上分析可知，对比文件1未公开权利要求1中的全部技术特征，即权利要求1的技术方案并未实质上完全被对比文件1所公开，权利要求1相对于对比文件1具备专利法第22条第2款规定的新颖性。
（2）权利要求2-5是从属权利要求，在其引用的权利要求具备新颖性的情况下，权利要求2-5相对于对比文件1也具备专利法第22条第2款规定的新颖性。
基于上述事实和理由，合议组依法作出如下审查决定。
三、决定
撤销国家知识产权局于2018年12月18日对本申请做出的驳回决定。由国家知识产权局专利实质审查部门在本复审请求审查决定所依据的审查文本的基础上对本申请继续进行审查。
如对本复审请求审查决定不服,根据专利法第41条第2款的规定,复审请求人可以自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
郑重声明：本文版权归原作者所有，转载文章仅为传播更多信息之目的，如作者信息标记有误，请第一时间联系我们修改或删除，多谢。
