发明创造名称：一种滤波装置和方法及一种物质探测装置和方法
外观设计名称：
决定号：195494
决定日：2019-11-18
委内编号：1F271648
优先权日：
申请（专利）号：201410854084.5
申请日：2014-12-31
复审请求人：同方威视技术股份有限公司
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：孙勐
合议组组长：汪磊
参审员：韩杰
国际分类号：G01N23/02
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第3款
决定要点
：如果一项权利要求与作为最接近现有技术的对比文件相比存在区别技术特征，而这些区别技术特征是本领域的公知常识，则该项权利要求相对于现有技术没有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201410854084.5，名称为“一种滤波装置和方法及一种物质探测装置和方法”的发明专利申请（下称本申请），本申请的申请人为同方威视技术股份有限公司，申请日为2014年12月31日，公布日为2015年04月22日。
经实质审查，国家知识产权局原审查部门于2018年08月17日作出驳回决定，驳回了本申请，其理由是：本申请权利要求1-4不符合专利法第22条第3款有关创造性的规定。驳回决定引用了以下2篇对比文件：
对比文件1：CN 1036285 A，公开日期为1989年10月11日；
对比文件3：US 2012/0314834 A1，公开日期为2012年12月13日。
驳回决定所依据的文本为: 2014年12月31日提交的说明书摘要、说明书第1-59段、摘要附图、说明书附图1-8、2018年06月21日提交的权利要求第1-4项。
驳回决定所针对的权利要求1-4如下：
“1. 一种滤波装置，其特征在于，所述装置包括：
双能射线源，所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线；
滤波片，位于所述双能射线源的射线出射处，由高Z材料制成，用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波；所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；
和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；
所述装置还包括：
第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；
第二准直器，用于对经所述第一准直器第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；
其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分。
2. 一种物质探测装置，其特征在于，利用经权利要求1所述的滤波装置滤波的高能射线和低能射线探测物质，获取所述物质的高能探测值和低能探测值，根据所述物质的高能探测值和低能探测值对所述物质进行探测。
3. 一种滤波方法，其特征在于，包括：
出射高能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述高能射线进行滤波；
出射低能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述低能射线进行滤波；所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；
和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作 在最稳定的工作点，至少为5g/cm2；
所述方法还包括：
对经滤波后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第一准直；
对经第一准直后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第二准直；
其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分。
4. 一种物质探测方法，其特征在于，利用权利要求3所述的滤波方法滤波的高能射线和低能射线探测物质，获取所述物质的高能探测值和低能探测值，根据所述物质的高能探测值和低能探测值对所述物质进行探测。”
驳回决定主要认为：权利要求1与对比文件3相比，其区别技术特征为：1）所述装置还包括：第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；第二准直器，用于对经所述第一准直器第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；2）所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2。区别技术特征（1）部分被对比文件1公开，而设置第二准直器是本领域技术人员容易想到的；对于区别技术特征（2），高Z材料的具体选择是常规选择，在对比文件1给出的启示下，选择铅、钨、锑中的至少一种也是本领域常规技术选择，滤波片的厚度和双能射线源的工作点选择是本领域技术人员经过有限次实验可以确定的。在对比文件3的基础上结合对比文件1及公知常识得到权利要求1的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，因此权利要求1不具备创造性。权利要求2引用了权利要求1，其进一步限定的用高能和低能射线对物质进行探测，已被对比文件3公开，在权利要求1不具备创造性的基础上，权利要求2也不具备创造性。权利要求3与对比文件3相比，其区别技术特征为：1）所述方法还包括：对经滤波后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第一准直；对经第一准直后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第二准直；2）所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，至少为5g/cm2；基于与权利要求1评述部分相同的理由，在对比文件3的基础上结合对比文件1及公知常识得到权利要求3的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，因此权利要求3不具备创造性。权利要求4引用了权利要求3，其进一步限定的用高能和低能射线对物质进行探测，已被对比文件3公开，在权利要求3不具备创造性的基础上，权利要求4也不具备创造性。
申请人同方威视技术股份有限公司（下称复审请求人）对上述驳回决定不服，于2019年01月21日向国家知识产权局提出了复审请求，并同时提交了权利要求书的全文修改替换页，分别在权利要求1和3中增加了“经10g/cm^2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示”这一技术特征。
复审请求人认为：1）本方案所解决的技术问题还包括对不同的能量的X射线滤波时，能减少检测能谱中的低能成分，现有技术中没有记载关于根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定滤波片的厚度的内容，也没有给出如何准确地确定滤波片的厚度，以达到增强滤波效果的启示，请求人不同意认为是公知常识的说法。2）现有技术中没有公开在一次准直后进行二次准直，也没有就此给出技术启示，请求人不同意认为是公知常识的说法。
经形式审查合格，国家知识产权局于2019年01月21日依法受理了该复审请求，并将其转送至原审查部门进行前置审查。
经前置审查，原审查部门坚持原驳回决定，坚持认为权利要求1-4不具备创造性。
随后，国家知识产权局成立合议组对本案进行审理，并于2019年07月23日发出复审通知书，通知书中指出：对比文件3公开了一种X射线成像检测装置及其滤波装置，其公开了权利要求1的大部分技术特征，权利要求1与对比文件3的区别技术特征为：1）所述滤波片由铅、钨、锑中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；2）第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；第二准直器，用于对经所述第一准直器第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；3）经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。对于区别技术特征（1），高Z材料的具体选择、滤波片选择为铅、钨、锑的一种、滤波片厚度的选择都是本领域常规选择；且根据《X射线金属学》记载的公知内容可知，滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，以及至少为5g/cm2，双能射线源工作点设置，都是本领域常规选择；区别技术特征（2）也是本领域常规选择；区别技术特征（3）是本领域的常规技术手段。在对比文件3的基础上结合本领域公知常识从而得到该权利要求1所要求保护的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，权利要求1不具备创造性。从属权利要求2的附加技术特征被对比文件3公开，则权利要求2也不具备创造性。权利要求3与对比文件3的区别技术特征在于：1）所述滤波片由铅、钨、锑中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；2）第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；第二准直器，用于对经所述第一准直器经第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；3）经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。基于与权利要求1评述部分相同的理由，对比文件3结合公知常识得到权利要求3的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，权利要求3不具备创造性。权利要求4引用了权利要求3，其进一步限定的用高能和低能射线对物质进行探测，已被对比文件3公开，在权利要求3不具备创造性的基础上，权利要求4也不具备创造性。
针对上述复审通知书，复审请求人于2019年09月05日提交了意见陈述书，并同时提交了权利要求书的全文修改替换页，在权利要求2和4中修改添加了“获取探测物质的图像和物理性质，包括探测物质的尺寸、形状、原子序数和密度”，所提交的权利要求1-4具体如下：
“1. 一种滤波装置，其特征在于，所述装置包括：
双能射线源，所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线；
滤波片，位于所述双能射线源的射线出射处，由高Z材料制成，用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波；所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；
和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；
所述装置还包括：
第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；
第二准直器，用于对经所述第一准直器第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；
其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分；经10g/cm^2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。
2. 一种物质探测装置，其特征在于，利用经权利要求1所述的滤波装置滤波的高能射线和低能射线探测物质，获取所述物质的高能探测值和低能探测值，根据所述物质的高能探测值和低能探测值对所述物质进行探测；获取探测物质的图像和物理性质，包括探测物质的尺寸、形状、原子序数和密度。
3. 一种滤波方法，其特征在于，包括：
出射高能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述高能射线进行滤波；
出射低能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述低能射线进行滤波；所述滤波片由铅、钨、铜、铁、锑、镍中的至少一种材料制成；
和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，至少为5g/cm2；
所述方法还包括：
对经滤波后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第一准直；
对经第一准直后的所述高能射线和/或所述低能射线进行第二准直；
其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分；经10g/cm^2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。
4. 一种物质探测方法，其特征在于，利用权利要求3所述的滤波方法滤波的高能射线和低能射线探测物质，获取所述物质的高能探测值和低能探测值，根据所述物质的高能探测值和低能探测值对所述物质进行探测；获取探测物质的图像和物理性质，包括探测物质的尺寸、形状、原子序数和密度。”
复审请求人认为权利要求1-4具备创造性，具体意见为：1）现有技术中均没有记载根据射线在1m处的剂量率，也没有确定滤波片厚度达到增强滤波效果的启示，现有技术也没有公开经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示；2）本申请在第一准直后设置第二准直，为后续物质探测的精度奠定基础，第一个准直器的作用是为了阻挡散射光、第二个准直器是为了调整光线，与教科书《听神经鞘瘤》中作用不同，该教科书的二次准直是对直径范围的进一步缩小，准直的对象为伽马射线，本申请对高能和低能射线同时进行准直。在第一准直后设置第二准直未被现有技术公开，也不是公知常识，也未被现有技术给出启示。3）对物质的尺寸、形状、原子序数、密度进行检测，能够获得更优越的系统分类检测性能。修改后的权利要求2，提供了能够通过对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，显著减少检测能谱中的低能成分，实现更大可分性系数的物质探测方式，从而获得更优越的系统分类检测性能。
在上述程序的基础上，本案合议组经合议，认为本案事实已经清楚，依法作出本审查决定。
二、决定的理由
（一）、审查文本的认定
在复审程序中，复审请求人于2019年09月05日提交了权利要求书的全文修改替换页，经合议组核实，权利要求书的修改没有超出原始申请记载内容的范围，符合专利法第33条及专利法实施细则第61条第1款的规定。本复审决定所依据的文本为：申请日2014年12月31日提交的说明书摘要、说明书第1-59段、摘要附图、说明书附图1-8、2019年09月05日提交的权利要求第1-4项。
（二）、关于权利要求是否符合专利法第22条第3款的规定
专利法第22条第3款规定：创造性，是指同现有技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求与作为最接近现有技术的对比文件相比存在区别技术特征，而这些区别技术特征是本领域的公知常识，则该项权利要求相对于现有技术没有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
具体到本案：
权利要求1要求保护一种滤波装置，对比文件3公开了（参见说明书第0005-0006段、第0071-0072段，第9页最后一段）一种X射线成像检测装置及其滤波装置，具体公开了：提供交替X射线能谱的X射线源，位于待测目标物体的一侧，其可以提供至少两种交替的kVp值的X射线，位于X射线源与待测目标物体之间的能谱分离固定滤波片，用于对出射的不同能量的X射线进行滤波，所述滤波片的材料的原子序数在60-72之间，材料优选为含Gd材料，再优选为Gd2O2S，该能谱分离固定滤波片提高了第一kVp值的X射线谱和第二kVp值的X射线谱之间的分离度。过滤器10，由一个最好选自铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中的一个单体材料构成的金属箔组成。
通过对比可知，对比文件3中的X射线源，对应于权利要求1中的双能射线源，所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线；对比文件3中的能谱分离固定滤波片，对应于权利要求1中的滤波片，位于所述双能射线源的射线出射处，由高Z材料制成，用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波；本领域技术人员可以直接毫无疑义地确定：经过能谱分离固定滤波片滤波，检测能谱中的低能成分必然减少了，也即对比文件3公开了：其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分。对比文件3中过滤器10由一个最好选自铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中的一个单体材料构成的金属箔组成，对应于权利要求1中所述滤波片由铜、铁、镍中的至少一种材料制成。
权利要求1请求保护的技术方案与对比文件3的区别技术特征为：（1）所述滤波片由铅、钨、锑中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；（2）第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；第二准直器，用于对经所述第一准直器第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；（3）经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。基于上述区别技术特征，可以确定权利要求1相对于对比文件3实际要解决的技术问题是：如何得到低能射线比例足够少、且准直度足够的出射X射线。
对于该区别技术特征（1），高Z材料的具体选择是本领域技术人员无需付出创造性劳动即可进一步确定的，对于滤波片由铅、钨、锑中的至少一种材料制成，具体材料选择为铅、钨、锑中的至少一种也是本领域常规技术选择。其次，滤波片的厚度选择是本领域的常规选择，本领域教科书《X射线金属学》（（美）B.D.柯列迪著，中国工业出版社出版，1965年3月第1版，公开日期1965年03月31日）可证实，其正文第11页记载了：如此选择的滤波片，其吸收的Kβ光谱成分远较Kα光谱成分为强，因为它的吸收系数在这两个波长之间具有剧烈的变化；滤波片越厚，则透射光束中Kβ对Kα的强度比愈小，但是，不管滤波片厚到什么程度，其滤波作用一定不会彻底；因此，不可能将Kβ除尽；而只可以在合理地抑制Kβ的强度，而同时又保证Kα具有充分强度的条件下，找出一个折中的厚度来，在实践中发现，I（Kα）：I（Kβ）=500:1左右，在大多数的工作中，已经足够满意了。上述公知内容给出了启示，即通常情况下，滤波片的厚度选择是考虑到在满足滤波后高能射线满足需要以及满足一定的两种射线的滤波效果此两者的前提下进行的一种折中的人为选择，因此滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，以及至少为5g/cm2，是本领域的常规选择，这两个具体的选择条件本身并未产生预料不到的技术效果，则这种选择仍是属于本领域常规选择的范畴；优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，是为了保证射线源的稳定输出，本领域技术人员所能作出的常规选择。
对于区别技术特征（2），本领域教科书《直线加速器立体定向放射外科》（杨卫忠主编，福建科学技术出版社，2009年12月第1版，公开日期为2009年12月31日）正文第270页公开了：X-刀还配有二次准直器，一次准直器照射野范围40mm*40mm，二次准直器的直径范围5-50mm，根据病灶大小和形状选用不同的准直器。可见根据出束集中程度的不同选择设置一次准直和二次准直以取得更进一步的准直效果，进行如区别技术特征（2）的准直设置，是本领域的常规选择。
对于区别技术特征（3），对比文件3的权利要求11、16中已经公开了：检测X射线，利用计算机影像学生成图像，在此内容启示下，对于本领域技术人员而言，经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示，这是本领域技术人员容易想到的常规技术手段。
对于复审请求人在答复复审通知书时陈述的意见，合议组认为：（1）从前述教科书《X射线金属学》的正文第11页记载的内容了解到：通常情况下，金属滤波片会对高能和低能射线都有滤波效果，但是比例不同，滤波片的厚度选择是考虑到在满足滤波后高能射线满足需要以及满足一定的两种射线的滤波效果此两者的前提下进行的一种折中的人为选择，在滤波片材料选定的前提下，唯一能调变影响剂量率的滤波片属性，是其厚度，滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，这是请求人人为设定的一个具体的选择厚度的条件，这个条件本身是考虑到在满足滤波后高能射线满足需要以及满足一定的两种射线的滤波效果此两者的前提下进行的一种具体的人为选择条件，也未因依据该条件设置而得到任何意料不到的技术效果，据此分析，这是本领域常规选择的范畴。用蒙特卡洛模拟软件包如常见的FLUKA、GEANT4等对高能物理实验和检测方面有广泛应用，使用其对于能谱分布计算模拟的结果显示，是本领域常规选择。（2）本领域教科书《直线加速器立体定向放射外科》中公开的X刀和本申请一样都是准直的X射线，而且在没有排除高能或低能射线的前提下，同样是对高能和低能射线同时准直，申请人所述的第一个准直器的作用是为了阻挡散射光、第二个准直器是为了调整光线的作用，准直器的作用是聚焦射线束，从本领域技术人员的观点看来，该教科书中的第一准直器同样起到了阻挡作用，而该教科书中的第二准直器同样可以通过准直射线起到调整光线的作用。（3）根据透过物质的X射线形成图像并据此分析物质的尺寸、形状、密度，是本领域的常规选择，而X射线与物质相互作用所产生的散射光子的测量和分析来进行物质识别,这些光子包括正电子湮没光子、轫致辐射光子和康普顿散射光子,携带了物质原子序数的信息，也即通过分析该散射光子信息来确定物质的额原子序数，也是常规选择。
综上，请求人在意见陈述书中陈述的意见不能被接受，上述意见无法使得权利要求1具备创造性。
因此，在对比文件3的基础上结合本领域的公知常识得到该权利要求1所要求保护的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，该权利要求1请求保护的技术方案不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
权利要求2引用权利要求1，对比文件3公开了：提供一具有第一kVp能值和第二kVp能值的交替X射线谱，并在穿过物体后进行检测，进而生成图像（参见权利要求11步骤a-f）；而获取探测物质的图像和物理性质，包括探测物质的尺寸、形状、原子序数和密度，这是本领域基于X射线穿透物质后形成的图像及散射光子进行分析的常规选择。因此，在其引用的权利要求1不具备创造性的前提下，权利要求2也不具备创造性，不符合专利法第22条第3款的规定。
权利要求3要求保护一种滤波方法，对比文件3公开了（参见说明书第0005-0006段、第0071-0072段，说明书第9页最后一段）一种X射线成像检测装置及其滤波的方法，具体公开了：提供交替X射线能谱的X射线源，位于待测目标物体的一侧，其可以提供至少两种交替的kVp值的X射线，位于X射线源与待测目标物体之间的能谱分离固定滤波片，用于对出射的不同能量的X射线进行滤波，所述滤波片的材料的原子序数在60-72之间，材料优选为含Gd材料，再优选为Gd2O2S，该能谱分离固定滤波片提高了第一kVp值的X射线谱和第二kVp值的X射线谱之间的分离度。过滤器10，由一个最好选自铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中的一个单体材料构成的金属箔组成。
通过对比可知，对比文件3中的其可以提供至少两种交替的kVp值的X射线，位于X射线源与待测目标物体之间的能谱分离固定滤波片，用于对出射的不同能量的X射线进行滤波，对应于权利要求3中的出射高能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述高能射线进行滤波；出射低能射线，利用高Z材料制成的滤波片对所述低能射线进行滤波。本领域技术人员可以直接毫无疑义地确定：经过能谱分离固定滤波片滤波，检测能谱中的低能成分必然减少了，也即对比文件3公开了：其中，对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片，以减少检测能谱中的低能成分。对比文件3中过滤器10由一个最好选自铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中的一个单体材料构成的金属箔组成，对应于权利要求1中所述滤波片由铜、铁、镍中的至少一种材料制成。
权利要求3请求保护的技术方案与对比文件3的区别技术特征为：（1）所述滤波片由铅、钨、锑中的至少一种材料制成；和/或，所述滤波片的厚度根据射线在1m处的剂量率占所述双能射线源的出射剂量率的比例决定，优先保证所述双能射线源正常工作在最稳定的工作点，其至少为5g/cm2；（2）第一准直器，用于对经所述滤波片滤波后的高能射线和/或低能射线进行第一准直；第二准直器，用于对经所述第一准直器经第一准直后的高能射线和/或低能射线进行第二准直；（3）经10g/cm2铅滤波片和石墨滤波片后的能谱分布中，通过蒙特卡洛程序计算模拟的结果显示。基于上述区别技术特征，确定权利要求3相对于对比文件3实际要解决的技术问题是：如何得到低能射线比例足够少、且准直度足够的出射X射线。
对于该区别技术特征（1）-（3），基于与权利要求1的区别技术特征（1）-（3）评述相同的理由，区别技术特征（1）-（2）是本领域技术人员所能作出的常规选择。区别技术特征（3）是本领域技术人员的常规技术手段。
综上所述，在对比文件3的基础上结合公知常识以得到权利要求3所要求保护的技术方案，对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，权利要求3所要求保护的技术方案不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性，不符合专利法第22条第3款的规定。
权利要求4引用权利要求3，对比文件3公开了：提供一具有第一kVp能值和第二kVp能值的交替X射线谱，并在穿过物体后进行检测，进而生成图像（参见权利要求11步骤a-f）；而获取探测物质的图像和物理性质，包括探测物质的尺寸、形状、原子序数和密度，这是本领域基于X射线穿透物质后形成的图像及散射光子进行分析的常规选择。因此，在其引用的权利要求3不具备创造性的前提下，权利要求4不具备创造性，不符合专利法第22条第3款的规定。
综上所述，本申请的权利要求1-4均不具备创造性，不符合专利法第22条第3款的规定。
三、决定
维持国家知识产权局于2018年08月17日对本申请作出的驳回决定。
如对本复审请求审查决定不服，根据专利法第41条第2款的规定，复审请求人可自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
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