一种高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试系统-复审决定


发明创造名称:一种高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试系统
外观设计名称:
决定号:192531
决定日:2019-10-17
委内编号:1F268535
优先权日:
申请(专利)号:201410216027.4
申请日:2014-05-20
复审请求人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
无效请求人:
授权公告日:
审定公告日:
专利权人:
主审员:周亚沛
合议组组长:孙毅
参审员:李晓惠
国际分类号:G01R31/00,G01R31/28
外观设计分类号:
法律依据:专利法第22条第3款
决定要点
:如果一项权利要求的技术方案与最接近的对比文件之间存在区别特征,而该区别特征中一部分已被另一篇同领域的对比文件所公开,且其所起的作用与在本申请中为解决实际的技术问题所起的作用相同,其余部分属于本领域的公知常识,则该权利要求的技术方案不具备创造性。
全文:
本复审请求涉及申请号为201410216027.4,名称为“一种高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试系统”的发明专利申请(下称本申请)。本申请的申请日为2014年05月20日,公开日为2015年11月25日,申请人为中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
经实质审查,国家知识产权局原审查部门于2018年09月04日发出驳回决定,驳回了本发明专利申请,其理由是:权利要求1-8不符合专利法第22条第3款有关创造性的规定。其中引用了如下3篇对比文件:
对比文件1:CN 202693750U,公告日为2013年01月23日;
对比文件2:CN 102109572A,公开日为2011年06月29日;
对比文件3:CN 102571079A,公开日为2012年07月11日。
驳回决定所依据的文本为:申请人于申请日2014年05月20日提交的说明书摘要、说明书第1-43段、摘要附图、说明书附图图1-3;于 2017年11月13日提交的权利要求第1-8项。
驳回决定所针对的权利要求书如下:
“1. 一种高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试系统,包括:
运行用于执行自动测试分析的软件的设备;
FPGA硬件系统;
独立工作的高速时钟特性分析测试设备和辅助设备,其中,所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备与所述FPGA硬件系统之间通过串口/USB2.0实现数据通信,通过Verilog编程,所述FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试,所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备通过通用接口总线实现对所述高速时钟特性分析测试设备和所述辅助设备的控制。
2. 根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备包括PC,所述软件基于labview编写而成,通过所述串口/USB2.0控制所述FPGA硬件系统以及通过所述通用接口总线控制所述高速时钟特性分析测试设备对所述PLL/时钟芯片进行全自动测试,将测试数据整理写入到存储文件中去,或者通过控制所述高速时钟特性分析测试设备和所述辅助设备以及所述FPGA硬件系统进行半自动测试,实现对所述PLL/时钟芯片的调试测试。
3. 根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述FPGA硬件系统中的硬件包括:与所述测试系统中的串口/USB2.0相接的串口/USB接口模块、FPGA模块、信号继电器阵列、电源管理单元模块、电源模块、信号处理模块、3态缓冲器、功能键、交流参数测试点、与所述高速时钟特性测试设备以及所述高速PLL/时钟芯片相接的测试通路和用于所述FPGA硬件系统扩展的金手指连接。
4. 根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述高速时钟特性分析测试设备包括高速采样示波器、信号分析仪或频谱分析仪。
5. 根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,所述高速采样示波器的采样率>20GS/S。
6. 根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,所述控制中 对于所述高速采样示波器的控制包括对所述高速采样示波器的抖动分析软件的控制。
7. 根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述高速PLL/时钟芯片置于所述测试系统中的测试运行电路板上,通过连接器与所述FPGA硬件系统之间实现数据通信。
8. 根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述辅助设备包括电源、任意波形发生器和温度控制系统。 ”
驳回决定认为:权利要求1与对比文件1的区别在于:该测试系统用于高速PLL/时钟芯片特性自动分析测试,还包括FPGA硬件系统,运行用于执行自动测试分析的软件的设备与FPGA硬件系统之间通过串口/USB2.0实现数据通信。通过Verilog编程,所述FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。上述区别技术特征或者被对比文件3公开,或者被对比文件2公开,或者属于本领域常用技术手段,因此,权利要求1相对于对比文件1、对比文件3、对比文件2和本领域常用技术手段的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求2-8的附加技术特征或者被对比文件1公开,或者属于本领域的常用技术手段,因此,权利要求2-8也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
申请人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(下称复审请求人)对上述驳回决定不服,于2018年12月13日向国家知识产权局提出了复审请求,并未修改申请文件。复审请求人认为:(1)对比文件1仅公开一种广泛的IC芯片测试,而未涉及具体的高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试,对比文件1公开的技术方案并未使用FPGA硬件系统,相应地也就不会通过FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。(2)对比文件2公开的是一种传输芯片的测试方法,测试对象是通用传输芯片,而不是高速PLL和时钟芯片。对比文件2改进的传输芯片的测试方法的一个目的是不依赖于仪表,即对比文件2给出的教导是省去独立工作的高速时钟特性分析测试设备和辅助设备(具体可为高速采样示波器、信号分析仪、频谱分析仪等仪表),即对比文件2给出了相反的技术教导。再次,在对比文件2公开的测试方法中,FPGA给芯片发送测试数据并根据待测芯片对测试数据的处理返回的结果给出测试报告,这与本申请权利要求1中通过Verilog编程,所述FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试完全不同。实际上对比文件2公开的测试方法主要是通过FPGA可编程设备来实现传输芯片的诸如性能、电压、接口、功耗和时钟拉偏测试,而本申请权利要求1请求保护的技术方案则是通过执行自动测试的分析软件的设备控制FPGA以及高速采样示波器、信号分析以及辅助设备等实现对高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试,二者不管是测试对象、系统结构还是测试方法流程都不相同。
经形式审查合格,国家知识产权局于2018年12月19日依法受理了该复审请求,并将其转送至原审查部门进行前置审查。
原审查部门在前置审查意见书中坚持原驳回决定。
随后,国家知识产权局成立合议组对本案进行审理。
合议组于2019年06月25日向复审请求人发出复审通知书,指出:权利要求1与对比文件1相比,其区别技术特征在于:(1)对高速PLL和时钟芯片进行测试;(2)还包括FPGA硬件系统,所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备与所述FPGA硬件系统之间通过串口/USB2.0实现数据通信,通过Verilog编程,所述FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。该区别(1)属于本领域的公知常识,区别(2)是本领域技术人员在对比文件2所公开内容的基础上容易想到的,因此,权利要求1相对于对比文件1、对比文件2和本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求2-8的附加技术特征或者被对比文件1公开,或者属于本领域的常用技术手段,因此,权利要求2-8也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
对于复审请求人的意见,合议组认为:(1)虽然对比文件1所公开的IC测试系统是一种广泛的IC芯片测试,但是,由于数字产品中的组件都要伴随着时钟信号开同步进行动作,因此,PLL/时钟芯片是本领域常用的一种芯片,当本领域技术人员面对如何对PLL/时钟芯片进行测试的技术问题时容易想到将对比文件1公开的IC芯片测试系统用于测试PLL/时钟芯片的性能。(2)虽然对比文件2公开的是对传输芯片的测试,但是如前所述,将对比文件1所述的技术方案用于对PLL/时钟芯片进行测试是本领域技术人员容易想到的,对比文件2公开了处理器根据测试用例中的可编程设备的配置项配置FPGA,FPGA用于接收处理器的配置并根据测试用例中的待测芯片的工作配置参数、测试功能项构造测试数据,即通过采用FPGA,进一步提高测试的灵活性。因此,本领域技术人员为了提高测试系统的灵活性,基于对比文件2的启示,容易想到将FPGA用于对比文件1公开的技术方案中通过FPGA对被测芯片进行参数配置和测试数据。虽然对比文件2公开了不依赖于仪表,其本身通过模块设置具有完成测试和数据处理的功能,但是FPGA是本领域公知的可编程器件,其作为PC机与被测对象或其他模块之间的桥梁也是本领域所通知的,与FPGA配合使用的模块或设备是本领域技术人员根据实际需要选择设置的,本身并不排斥其他仪表的使用。因此,当本领域技术人员根据具体被测芯片的被测参数特点希望更直观更简便的获得检测结果时,容易想到将FPGA与常用的测试设备结合一起使用。此外,对比文件2中也并非完全放弃仪表,例如在图6中就使用了仪表602。因此,复审请求人的意见合议组不予支持。
复审请求人于2019年08月08日提交了意见陈述书,但未修改申请文件。复审请求人认为:(1)对比文件1仅公开一种广泛的IC芯片测试,而未涉及具体的高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试,对比文件1公开的技术方案并未使用FPGA硬件系统,相应地也就不会通过FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。(2)对比文件2公开的是一种传输芯片的测试方法,也即对比文件2公开的测试方法的测试对象是通用传输芯片,而不是高速PLL和时钟芯片。对比文件2中传输芯片的测试由包括FPGA的可编程设备控制完成,而本申请中的速PLL和时钟芯片的测试是通过执行自动测试的分析软件的设备控制FPGA以及高速采样示波器、信号分析以及辅助设备等实现对高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试,二者不管是测试对象、系统结构还是测试方法流程都不相同。
在上述程序的基础上,合议组认为本案事实已经清楚,可以依法作出审查决定。
二、决定的理由
(一)关于审查文本
在复审程序中,复审请求人并未对申请文件进行修改,因此,本复审请求审查决定以驳回决定所针对的文本为基础作出。
(二)关于专利法第22条第3款
专利法第22条第3款规定:创造性,是指与现有技术相比,该发明具有突出的实质性特点和显著的进步,该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求的技术方案与最接近的对比文件之间存在区别特征,而该区别特征中一部分已被另一篇同领域的对比文件所公开,且其所起的作用与在本申请中为解决实际的技术问题所起的作用相同,其余部分属于本领域的公知常识,则该权利要求的技术方案不具备创造性。
具体到本案:
1.权利要求1请求保护一种高速PLL和时钟芯片特性自动分析测试系统,对比文件1公开了一种基于LABVIEW的IC测试系统,与本申请属于相同的芯片测试技术领域,具体公开了以下技术特征(参见说明书第1-2页,图1):
一种基于LABVIEW的IC测试系统,其包括数字电源、信号发生器、频谱仪及机械手臂,所述的数字电源连接被测IC芯片的电源输入端提供电源,所述的信号发生器连接被测IC芯片的信号输入端,所述的频谱仪连接被测芯片的信号输出端,所述的机械手臂移动或紧压所述的被测IC芯片。
所述的信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接。所述的LABVIEW测试平台主机控制着整个测试流程的执行,其整合常用的测试仪表,包括信号发生器、频谱分析仪和示波器,本实施例中的信号发生器、频谱仪、机械手臂通过利用GPIB接口与被测IC芯片连接进行通讯。
使用Labview开发软件整合市面上常用测试仪表:信号发生器、频谱分析仪、示波器等,芯片设计公司可以直接使用他们的研发工板,配合工程调试用的测量仪器,可以大大缩短测试方案开发时间、降低测试方案开发难度、节约测试成本。而开发一些低成本的RF测试方案,可以有效满足芯片设计公司的需求,也可提升测试厂的技术能力。
根据上述对比文件1公开的内容可知,对比文件1公开的基于LABVIEW的IC测试系统相应于权利要求1的芯片自动分析测试系统;对比文件1中公开的LABVIEW测试平台主机控制着整个测试流程的执行,LABVIEW测试平台主机相当于权利要求1中运行用于执行自动测试分析的软件的设备;频谱仪相当于权利要求1中独立工作的高速时钟特性分析测试设备,信号发生器和数字电源相当于权利要求1中的辅助设备;信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接,相当于权利要求1中运行用于执行自动测试分析的软件的设备通过通用接口总线实现对所述高速时钟特性分析测试设备和所述辅助设备的控制。
根据上述分析可知,权利要求1与对比文件1相比,其区别技术特征在于:(1)对高速PLL和时钟芯片进行测试;(2)还包括FPGA硬件系统,所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备与所述FPGA硬件系统之间通过串口/USB2.0实现数据通信,通过Verilog编程,所述FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。基于上述区别,该权利要求1实际解决的技术问题是如何对PLL/时钟芯片进行测试以及如何提高测试系统的灵活性。
对于上述区别(1),首先,对比文件1公开的是一种通用的IC测试系统,PLL/时钟芯片本领域公知的常用的芯片,因此,当本领域技术人员面对如何对PLL/时钟芯片进行测试的技术问题时,容易想到将对比文件1公开的IC测试系统用于测试PLL/时钟芯片。
对于区别(2),对比文件2公开了一种传输芯片的测试方法及测试控制方法,与本申请属于相同的芯片测试技术领域,具体公开了以下技术特征(参见说明书第45-71段,图2):根据本发明的一个实施例,可利用测试装置300对传输芯片进行全方位测试,其中包括性能测试。本实施例中的性能测试包括精确测试待侧芯片的电压工作范围、功耗;灵活测试待测芯片的时钟偏移范围;准确测试芯片的接口时序。根据本发明测试装置的一个实施例,可编程设备还包括处理器204,用于根据测试用例中的可编程设备的配置项配置FPGA202;FPGA202还用于接收处理器204的配置并根据测试用例中的待测芯片207的工作配置参数、测试功能项构造测试数据。根据本发明测试装置的一个实施例,还包括与待测芯片207连接的拉偏时钟信号单元205,用于给待测芯片输入拉偏的时钟信号,该装置200还用于通过可编程设备201测试待测芯片207运行是否正常,如果正常,则继续加大时钟信号的频偏,直到待测芯片207运行不正常为止。根据本发明测试装置的一个实施例,还包括与待测芯片207连接的可 调压电源模块206,用于单独向待测芯片提供所需的电压,可编程设备201 还用于根据该电压对应的测试到的电流,获得待测芯片的功耗。在本实施例中,可由可调电压源206向待测芯片输出的多种可调电压,如1V、1.2V、 1.8V、2.5V和3.3V,或其它任何所需的电压值。根据本发明测试装置的一个实施例,处理器204的控制接口通过 FPGA202与待测芯片207对接,FPGA202还用于根据待测试芯片207的 接口时序,对处理器的时序进行构造/转化,处理器204还用于对待测芯片 207的寄存器完成反复读写,验证待测芯片207与处理器接口的时序是否正常。即对比文件2公开了采用与处理器连接的FPGA对被测芯片进行配置和测试能够提高测试的灵活性,并且公开获取测试到的芯片的电流和功耗以及测试芯片与处理的接口时序是否正常进行测试即芯片与测试系统的连接性进行测试。因此,当本领域技术人员面对如何使芯片测试系统更具有灵活性更高效时,容易想到将对比文件1中增加主机与被测芯片之间连接的FPGA,使该测试系统更具有灵活性便于配置和测试被测芯片的参数。当本领域技术人员基于上述启示,在主机与被测芯片之间设置FPGA对PLL/时钟芯片进行测试时,本领域技术人员容易想到使主机与FPGA通过本领域公知的串口/USB2.0实现数据通信,通过Verilog编程, FPGA硬件系统对所述PLL/时钟芯片进行逻辑配置,并对所述PLL/时钟芯片的直流参数以及所述PLL/时钟芯片与所述测试系统的连接性进行测试。
因此,在对比文件1基础上结合对比文件2和本领域常用技术手段以得到该权利要求所述的技术方案对于本领域技术人员来说是显而易见的,该权利要求不具有突出的实质性特点和显著的进步,不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
对于复审请求人在意见陈述书的意见,合议组认为:首先,虽然对比文件1所公开的IC测试系统是一种广泛的IC芯片测试,但是,由于数字产品中的组件都要伴随着时钟信号同步进行动作,PLL/时钟芯片是本领域常用的一种芯片,并且采用信号发生器、示波器和频谱仪等对锁相环芯片进行测试是本领域公知的(参见文献1《光电技术试验》,刘振玉,兵器工业出版社,1993年03月,第49页记载了:用信号发生器输出信号作为锁相环LM565输入信号,改变信号发生器的频率和幅度,用示波器观察锁相环的锁定情况,用频率计测定锁定的频率范围。文献2《SoC设计与测试》,(美)雷斯曼(Rajsuman,R.)著 ,敦山等译, 北京航空航天大学出版社,2003年08月第1版,第145-146记载了:锁相环PI( Phase-Locked loop)的测试视其是全集成的,还是使用了外部的反馈滤波器而定。另外,它也与是否使用了可测性设计(便于访问内部节点)以及在测试模式下PLL能否开环有关。另外一个影响测试的因素是ATE功能和相比于PII频率范围的测试仪的最大频率。相位传递函数是通过测量在不同调制频率下的环路滤波器的输出信号幅值来获得的。用扫描产生仪产生调制频率,用频谱分析仪完成测量)。因此,当本领域技术人员面对如何对PLL/时钟芯片进行测试的技术问题时容易想到将对比文件1公开的IC芯片测试系统用于测试PLL/时钟芯片的性能实现对PLL/时钟芯片测试的自动化。(2)虽然对比文件2公开的是对传输芯片的测试,但是如前所述,将对比文件1所述的技术方案用于对PLL/时钟芯片进行测试是本领域技术人员容易想到的,对比文件2公开了处理器根据测试用例中的可编程设备的配置项配置FPGA,FPGA用于接收处理器的配置并根据测试用例中的待测芯片的工作配置参数、测试功能项构造测试数据,即通过采用FPGA,进一步提高测试的灵活性。并且在测试领域,通过主控器与FPGA 的配合实现测试是本领域的公知技术(参见文献3《中国人工智能进展(2009),中国人工智能学会编,北京邮电大学出版社,2009年12月,第212记载了测试仪采用的上位机-FPGA-测试板模式;文献4 CN102183726A,2011年09月14日,记载了一种基于FPGA的集成电路芯片测试系统,具体公开了主控芯片用于配置所述FPGA芯片,控制所述FPGA 芯片对待测芯片进行测试;文献5 CN102540060A,2012年07月40日,公开了一种数字集成电路芯片测试系统,具体公开了:数字集成电路芯片测试机由CPU FPGA的架构组成,CPU负责测试过程控制。)因此,本领域技术人员为了提高测试系统的灵活性,基于对比文件2的启示,容易想到将FPGA用于对比文件1公开的技术方案中通过FPGA与主机的配合对被测芯片进行参数配置和测试。最后,虽然对比文件2公开了不依赖于仪表,其本身通过模块设置具有完成测试和数据处理的功能,但是FPGA是本领域公知的可编程器件,其作为PC机与被测对象或其他模块之间的桥梁也是本领域所通知的,与FPGA配合使用的模块或设备是本领域技术人员根据实际需要选择设置的,本身并不排斥其他仪表的使用。本领域公知的测试系统的构建可以是全自动化的也可以是半自动化的,这是本领域技术人员根据成本、精度等需求可以自由选择的。因此,当本领域技术人员根据具体被测芯片的被测参数特点以及成本等因素的考虑希望降低成本并更直观更简便的获得检测结果时,容易想到将FPGA与常用的测试设备结合一起使用,并通过主控器对它们进行控制。因此,复审请求人的意见合议组不予支持。
2、权利要求2对权利要求1作了进一步的限定,其附加技术特征为:所述运行用于执行自动测试分析的软件的设备包括PC,所述软件基于labview编写而成,通过所述串口/USB2.0控制所述FPGA硬件系统以及通过所述通用接口总线控制所述高速时钟特性分析测试设备对所述PLL/时钟芯片进行全自动测试,将测试数据整理写入到存储文件中去,或者通过控制所述高速时钟特性分析测试设备和所述辅助设备以及所述FPGA硬件系统进行半自动测试,实现对所述PLL/时钟芯片的调试测试。对比文件1公开了LABVIEW测试平台主机软件是基于labview开发的,信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接,LABVIEW测试平台主机控制着整个测试流程的执行。对比文件2公开了对307进行管理和驱动的PC305;FPGA(现场可编程逻辑阵列)309;FPGA309下挂的存储单元310(参见说明书第72段),即对比文件2公开了采用PC机控制FPGA,存储单元用于存储数据。根据对权利要求1的评述可知,本领域技术人员为了提高测试系统的灵活性,容易想到将对比文件2公开的通过PC机控制FPGA再对被测芯片进行测试的结构用于对比文件1中,将测试数据整理写入到存储文件中去也是本领域技术人员容易想到的,此外,而本领域技术人员根据测试的需求,实现自动测试或半自动测试是本领域的常规技术选择。因此,在其引用的权利要求1不具备创造性的情况下,权利要求2也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
3、权利要求3对权利要求1作了进一步的限定,其附加技术特征为:所述FPGA硬件系统中的硬件包括:与所述测试系统中的串口/USB2.0相接的串口/USB接口模块、FPGA模块、信号继电器阵列、电源管理单元模块、电源模块、信号处理模块、3态缓冲器、功能键、交流参数测试点、与所述高速时钟特性测试设备以及所述高速PLL/时钟芯片相接的测试通路和用于所述FPGA硬件系统扩展的金手指连接。其附加技术特征是本领域技术人员根据测试需求对FPGA配置的常用技术手段。因此,在其引用的权利要求1不具备创造性的情况下,权利要求3也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
4、权利要求4对权利要求1作了进一步的限定,其附加技术特征为:所述高速时钟特性分析测试设备包括高速采样示波器、信号分析仪或频谱分析仪。对比文件1(参见说明书第8段图1)公开了频谱仪作为测试分析设备,常用测试仪表:信号发生器、频谱分析仪、示波器等。因此,在其引用的权利要求1不具备创造性的情况下,权利要求4也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
5、权利要求5,6对权利要求4作了进一步的限定,其附加技术特征分别为:所述高速采样示波器的采样率>20GS/S;所述控制中对于所述高速采样示波器的控制包括对所述高速采样示波器的抖动分析软件的控制。其附加技术特征是本领域技术人员对高速时钟信号进行测试分析的常用技术手段。因此,在其引用的权利要求4不具备创造性的情况下,权利要求5,6也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
6、权利要求7对权利要求1作了进一步的限定,其附加技术特征为:所述高速PLL/时钟芯片置于所述测试系统中的测试运行电路板上,通过连接器与所述FPGA硬件系统之间实现数据通信。将待测芯片至于测试运行电路板并采用连接器与FPGA连接是本领域的常用技术手段,因此,在其引用的权利要求1不具备创造性的情况下,权利要求7也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
7、权利要求8对对权利要求1作了进一步的限定,其附加技术特征为:所述辅助设备包括电源、任意波形发生器和温度控制系统。对比文件1(参见图1)公开了数字电源和波形发生器作为辅助设备;而为了进行不同温度下测试,采用温度控制系统也是本领域的常用技术手段。因此,在其引用的权利要求1不具备创造性的情况下,权利要求8也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
综上所述,权利要求1-8不符合专利法第22条第3款的规定。

三、决定
维持国家知识产权局于2018年09月04日对本申请作出的驳回决定。
如对本复审请求审查决定不服,根据专利法第41条第2款的规定,请求人自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。


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