发明创造名称：一种短波长X射线衍射的板状内部应力定点无损检测方法
外观设计名称：
决定号：191909
决定日：2019-10-10
委内编号：1F257020
优先权日：
申请（专利）号：201410842101.3
申请日：2014-12-30
复审请求人：西南技术工程研究所 中国工程物理研究院材料研究所
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：支辛辛
合议组组长：汪磊
参审员：孙勐
国际分类号：G01N23/207
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第3款
决定要点
：如果一项权利要求请求保护的技术方案与作为最接近的现有技术的对比文件公开的技术方案相比存在多个区别技术特征，但这些区别技术特征或被另一篇对比文件公开，或属于本领域的公知常识，则该项权利要求请求保护的技术方案相对于现有技术不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201410842101.3，名称为“一种短波长X射线衍射的板状内部应力定点无损检测方法”的发明专利申请。申请人为西南技术工程研究所和中国工程物理研究院材料研究所。本申请的申请日为2014年12月30日，公开日为2015年04月08日。
经实质审查，国家知识产权局原审查部门审查员于2018年04月16日以本申请权利要求1-5不符合专利法第22条第3款关于创造性的规定为由作出驳回决定。驳回决定中引用了如下3篇对比文件：
对比文件1：“3003铝合金X射线法表面残余应力的检测”,段能全等，《中国表面工程》，第25卷第6期，第79-84页，公开日期为2012年12月31日；
对比文件2：“短波长X射线衍射无损测定铝板内部残余应力”,郑林等，《精密成形工程》，第3卷第2期，第25-30页，公开日期为2011年03月31日；
对比文件3：“2024-T351铝合金搅拌摩擦焊焊件内部残余应力测试”，张津等，《机械工程学报》，第49卷第2期，第28-34页，公开日期为2013年01月31日。
驳回决定所依据的文本为：2014年12月30日提交的权利要求书第1-5项、说明书第1-75段、说明书附图1-5、说明书摘要及摘要附图。驳回决定所针对的权利要求书如下：
“1.一种短波长X射线衍射的板状内部应力定点无损检测方法，所述方法包括如下：
(1)选定测量所用的重金属靶X射线管的短波长特征X射线Kα系：根据X射线管的重金属靶材的短波长特征X射线Kα系的能量，设定X射线探测分析系统的能量分析器上下阈；
(2)选取测试的衍射晶面(hkl)并计算Kα系对应的衍射角2θhkl：选取试样的最强衍射峰或较强衍射峰对应的晶面(hkl)作为测试的衍射晶面，计算得到短波长特征X射线Kα系对应的衍射角2θhkl；
(3)设置测量(hkl)晶面衍射谱的测试参数：设置仪器的管电压为所选重金属靶X射线管发出的短波长特征X射线Kα1激发电压的2～6倍，设置包括2θhkl的扫描范围、步长在内的测量(hkl)晶面衍射谱的测试参数；
(4)Ψ角的选择：在Ψ＝45°～90°范围内选择n个Ψ角，Ψ＝45°，Ψ2，…，Ψn-1，90°，n为大于1的正整数；
(5)板状试样安装：将板材试样固定于样品台上并使得板材试样板面法线与入射的X射线平行，以及所需测试应力的方向在Ψ角转动平面内；
(6)板材试样内部被测部位平移到衍射仪园的圆心；
(7)多个Ψ角的(hkl)晶面衍射谱测试：依次测量Ψ＝45°，Ψ2，…，Ψn-1，90°的(hkl)晶面的Kα系衍射谱；
(8)各Ψ角的(hkl)晶面衍射谱定峰并计算板状试样内部被测部位的应力：拟合衍射峰，定峰计算得到Kα1对应的各Ψ角的(hkl)晶面衍射谱的峰位简化的平面应力状态的试样内部被测部位、被测方向的应力计算公式为
上式中
其中，K——所测试样材料(hkl)晶面的X射线应力常数；
M——对sin2Ψ的变化斜率；
θhkl——所测试样材料(hkl)晶面的理论值；
Ψ——所测试样板面法线与所测试样材料晶面(hkl)法线的夹角；
——所测试样在各Ψ角时测得的(hkl)晶面衍射角；
Ehkl——所测试样材料(hkl)晶面的弹性模量；
νhkl——所测试样材料(hkl)晶面的泊松比；
计算过程：由Ψ＝45°～90°范围内测得的n个测试数据，计算得到对sin2Ψ的变化斜率M；由Ehkl、νhkl以及θhkl就可以计算得到所测试样材料晶面的X射线应力常数K；将计算得到的K、M带入计算公式，就可以由Kα1衍射谱计算得到试样内部被测部位、被测方向的应力值
2.根据权利要求1所述的短波长X射线衍射的板材内部应力定点无损检测方法，其特征在于：所述步骤(8)中，还可以由包含Kα2的(hkl)晶面衍射谱，计算得到Kα2对应的各Ψ角应的(hkl)晶面衍射谱的峰位并代入应力计算公式，得到由Kα2衍射谱计算的试样内部被测部位、被测方向的应力值并按照Kα1与Kα2的强度比2：1加权平均计算，得到由Kα系衍射谱计算的试样内部被测部位、被测方向的应力值
3.根据权利要求1或2所述的短波长X射线衍射的板材内部应力定点无损检测方法，其特征在于：所述步骤(5)中，所需测试应力的方向为板状试样板面内任意方向。
4.根据权利要求1或2所述的短波长X射线衍射的板材内部应力定点无损检测方法，其特征在于：所述步骤(7)中，针对粗晶，增加步骤：试样在X或Y方向上做一定振幅的往复运动，减小衍射的统计误差。
5.根据权利要求1或2所述的短波长X射线衍射的板材内部应力定点无损检测方法，其特征在于：所述步骤(4)中n个Ψ角在Ψ＝45°～90°范围内按照等角度间距选取，或者在sin2Ψ＝0.5～1范围内按照sin2Ψ值等间距选取。”
驳回决定主要认为，独立权利要求1的技术方案与对比文件3的区别技术特征是：（1）根据X射线管的重金属靶材的短波长特征X射线Kα系的能量，设定X射线探测分析系统的能量分析器上下阈，选取试样的最强衍射峰或较强衍射峰对应的晶面(hkl)作为测试的衍射晶面，计算得到短波长特征X射线Kα系对应的衍射角2θhkl；设置仪器的管电压为所选重金属靶X射线管发出的短波长特征X射线Kα1激发电压的2～6倍，设置包括2θhkl的扫描范围、步长在内的测量(hkl)晶面衍射谱的测试参数；（2）板状试样安装：将板材试样固定于样品台上并使得板材试样板面法线与入射的X射线平行，以及所需测试应力的方向在Ψ角转动平面内，板材试样内部被测部位平移到衍射仪圆的圆心。上述区别技术特征（1）是本领域技术人员在对比文件3的技术教导基础上的常规技术手段。区别技术特征(2)部分被对比文件2公开，部分为本领域公知常识。因此，独立权利要求1相对于对比文件3、对比文件2和与上述公知常识的结合不具备创造性。从属权利要求2-5的附加技术特征或被对比文件3、2公开，或属于本领域技术人员的常规技术手段，因而从属权利要求2-5也不具备创造性。
申请人西南技术工程研究所（下称复审请求人）对上述驳回决定不服,于2018年07月26日向国家知识产权局提出了复审请求，未对申请文件进行修改。
复审请求人主要认为：①本领域通常通过晶体单色器或滤波器选择Kα，但这种方法只能得到Kα，而不能得到Kα1。由于本申请使用WKα1更准确，使得得到的衍射角更精确，进而检测结果也更准确。这不属于公知常识，对比文件2、3也未给出相应的教导。②本申请设定X射线探测分析系统的能量分析器上下阈的方式，不属于公知常识，也未被对比文件公开。③对比文件3仅有文字说明，Ψ角的取值范围为45°≤Ψ≤135°，未给出衍射光路几何图，致使Ψ角定义不明确，而且本申请的Ψ角的取值范围为45°≤Ψ≤90°与对比文件3不同，测试原理与对比文件3也不同。④本申请的短波长X射线衍射测试方法通过8个步骤实现非强织构材料内部残余应力检测，步骤间是不可分割的整体。⑤本领域常规做法为采用同一波长射线对n个不同晶面分别进行2θ角扫描，对n次测试表明应力测试结果取算术平均值而得应力值，而权利要求2对同一晶面在1次测量中同时测定两个衍射谱，进而将结果加权平均测定得到应力值。⑥对比文件1中的摇摆方式是仪器进行角度摇摆，来减小衍射统计误差，而权利要求4是试样的平移方式往复运动，方式不同，因而本申请权利要求4具备创造性。因此本申请的权利要求1-5具备创造性。
经形式审查合格，国家知识产权局于2018年08月16日依法受理了该复审请求，并将其转送至原审查部门进行前置审查。
原审查部门在前置审查意见书中坚持原驳回决定。
随后，专利复审委员会依法成立合议组对本案进行审理。本案合议组于2019年03月04日向复审请求人发出复审通知书，指出权利要求1要求保护的技术方案与对比文件3公开内容的区别技术特征在于：（1）设定X射线探测分析系统的能量分析器上下阈；设置仪器的管电压为所选重金属靶X射线管发出的短波长特征X射线Kα1激发电压的2～6倍；（2）选取试样的最强衍射峰或较强衍射峰对应的晶面(hkl)作为测试的衍射晶面；板状试样安装：将板材试样固定于样品台上并使得板材试样板面法线与入射的X射线平行，板材试样内部被测部位平移到衍射仪圆的圆心；（3）选择n个Ψ角，Ψ＝45°，Ψ2，…，Ψn-1，90°，n为大于1的正整数，依次测量对应的晶面的Kα系衍射谱，拟合衍射峰，定峰计算得到Kα1对应的各Ψ角的(hkl)晶面衍射谱的峰位。然而，上述区别技术特征（1）、（3）为本领域技术人员常规技术手段，区别技术特征（2）部分被对比文件2公开，部分为本领域的常规技术手段。因而独立权利要求1相对于对比文件3与对比文件2和本领域常规技术手段的结合不具备创造性。从属权利要求2-5的附加技术特征或已被对比文件3、2公开，或属于本领域的常规技术手段，因而从属权利要求2-5也不具备创造性。合议组还对复审请求人提出复审请求时陈述的意见进行了详细答复。
复审请求人于2019年04月15日针对复审通知书提交了意见陈述书，未对申请文件进行修改。复审请求人主要认为：①Kα包括Kα1和Kα2，对比文件3中WKα波长为0.0208992nm为笔误，本申请并非采用WKα1作为入射线，而是白光入射，在接受衍射的各种能量光子后经光子能量分析得到WKα1，是从光的波动性进行衍射后再基于光的粒子性进行光子能量分析而得到的WKα1，是基于管的波粒二象性原理的衍射方法，完全不同于现有公开的基于光的波动性原理的衍射方法。②本领域中一般通过晶体衍射的单色器得到包含Kα1 Kα2两个波长的Kα，或者采用随波长吸收敏感滤波片而得到Kα 少量Kβ的X射线。而从提交的图1a、b可见本申请得到的是完全单一波长的Kα1衍射谱，使得本申请得到的晶面间距更准。本申请不是采用常规数学方法得到单一波长Kα1衍射谱，既不是Rachinger的替代图解法，也不是Gangulee的Fourier变换法，体现了技术进步。本申请不仅得到了单一Kα1线，而且避免了晶体衍射单色器或滤波片所造成的射线强度剧烈衰减两个巨大优势。所以本申请使用“X射线探测分析系统的能量分析器上下阈”的手段不是本领域技术人员容易想到的。③实际测试应力的sin?Ψ法不止五种技术方法。如《理化检测一物理分册》2007年第4期至第12期的残余应力基本知识讲座的第三讲“X射线应力测定方法”所述，包括固定Ψ0同倾法、固定Ψ同倾法，有倾角η的侧倾法、固定Ψ的侧倾法、修正的cHI法等，所采用的应力计算方法均为本发明和对比文件3所述的sin2Ψ法公式。上述五种方法Ψ胶、2θ角，θ角等角度及其运动相互关系明显不同，仅从对比文件3公开的内容看，仅能确定其采用透射法的sin2Ψ法，不能确定具体的测试方法。④本申请的衍射方法既不是常规的采用单一波长的X射线衍射，也不是通常的固定在一个衍射角2θ的色散衍射，是衍射谱按衍射角2θ展开的角度分辨X射线衍射＋衍射谱按光子能量展开的能量色散X射线衍射的混合方式，它是突破了上述两种传统方法的创造性劳动成果，对于衍射领域技术人员绝不是显而易见的。本申请技术方案步骤是独创的，使得本申请具有实质性进步。⑤本申请一次测量可以测得多个波长相近的单一波长衍射峰，从而计算得到多个应力值，再取加权平均得到同样耗时的更高精度的应力值，这不是本领域常规技术手段。因此本申请的权利要求1-5具备创造性。
在上述程序的基础上，合议组认为本案事实已经清楚，依法作出本审查决定。
二、决定的理由
（一）、审查文本的认定
在复审程序中，复审请求人未对申请文件进行修改，因此，本复审决定以复审请求人于申请日2014年12月30日提交的权利要求书第1-5项、说明书第1-75段、说明书附图1-5、说明书摘要及摘要附图为基础作出。
（二）、有关创造性的问题
专利法第22条第3款规定：创造性，是指与现有技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求请求保护的技术方案与作为最接近的现有技术的对比文件公开的技术方案相比存在多个区别技术特征，但这些区别技术特征或被另一篇对比文件公开，或属于本领域的公知常识，则该项权利要求请求保护的技术方案相对于现有技术不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
具体到本申请：
1、关于独立权利要求1的创造性
权利要求1请求保护一种短波长X射线衍射的板状内部应力定点无损检测方法，对比文件3公开了一种2024-T351铝合金搅拌摩擦焊焊件内部残余应力测试方法，具体公开了：将两块铝合金板通过搅拌摩擦焊对接形成如图1所示的焊件。选用W靶Kα特征辐射(λ=0.0208992nm)，工作温度为22℃±2℃，管压为200kV，管流为12mA。测试时选用Al{311}晶面族进行衍射，理论空间分辨率(入射线与衍射线的交集)为1.1mm×0.1mm×5mm。但在实际测试中由于铝合金晶粒粗大，为了提高统计性，将样品台沿特定方向做往复运动从而使更多的晶粒参与衍射，往复运动的振幅和晶粒尺寸有关，所以实际测试的残余应力结果是衍射体积在往复运动过程中所扫过的整个衍射体积内残余应力的平均值。图3FSW焊件残余应力的测试点分布图，坐标系原点在待测焊件的几何中心，所有测试点在图3中标出，这些点均位于焊件厚度中心层的平面内。由于SWXRD采用的波长较短，对于Al{311}衍射角约为10°，所以采用了透射法，其Ψ角的取值范围为45°≤Ψ≤135°，而普通衍射仪采用反射法，其Ψ角的取值范围通常为–45°≤Ψ≤45°。所用sin2Ψ法测试残余应力的基本原理与普通X射线应力仪测试表面残余应力的原理完全相同。sin2Ψ法测试残余应力基本方程为：
??
式中K——X射线应力常数；M——不同Ψ角测定的2θφ,Ψ与sin2Ψ直线关系的斜率；2θφ,ψ——衍射角；E——衍射晶面的弹性模量；ν——衍射晶面的泊松比；Ψ——板法向与衍射晶面法向之间的夹角。
图6示出sin2Ψ法测得的铝合金FSW接头的残余应力分布，横坐标为距焊缝中心线的距离，纵坐标为残余应力（参见第30、32页）。
通过对比分析，如对比文件3图1和图3所示，焊件为板状，且测试点均位于焊件厚度中心层的平面内，为定点测试方式，并且该测试法对试样无损，测试采用短波长X射线衍射仪，因此该测试步骤相当于本申请权利要求1中短波长X射线衍射板状内部应力定点无损测试方法。对比文件3中W靶Kα特征辐射对应于本申请权利要求1中重金属靶X射线的短波长特征X射线Kα系；对比文件3中Al{311}晶面对应于选取测试的衍射晶面，并且对比文件3公开了其2θφ,ψ衍射角为10°，相当于本申请中衍射角θhkl，由于对比文件3给出了衍射角具体的数值，因此隐含公开了计算得到短波长特征X射线Kα系对应的衍射角。对比文件3中管压为200kv，对应于本申请中的管电压，从对比文件3图3可见残余应力的测试点分布图，具有前进侧和后退侧，这之间的范围对应于本申请中的扫描范围，图3示出测试点间具有一定距离，该距离就对应于本申请中步长，因此对比文件3也隐含公开了这些参数的对应设置步骤；对比文件3使用了透射法，其Ψ角的取值范围为45°≤Ψ≤135°，与本申请的取值范围Ψ角取值范围具有相同的端点45°，和部分重叠的数值区间，因此对比文件3公开了本申请Ψ＝45°～90°的数值范围；此外，由于对比文件3中Ψ角定义与本申请的Ψ角定义相同，因此可以直接毫无疑义地确定，其所需测试应力的方向与本申请相同，都在Ψ角转动平面内；对比文件3中公开了选用W靶Kα特征辐射(λ=0.0208992nm)，由于该特征辐射具有单一波长，且波长为0.0208992nm，和本申请WKα1波长（参见本申请说明书第39段）一致，因此该特征辐射对应于本申请中W靶的Kα1；对比文件3中sin2Ψ残余应力方程与本申请基本相同，只是其中个别参数书写与方式存在差异，但由于二者在参数的定义上完全相同，所以对比文件3公开了本申请的计算公式，并将测量值代入公式计算得到各种中间参数，进而将各个中间参数代入计算公式得到试样内部应力值；图6示出sin2Ψ法测得的铝合金FSW接头的残余应力分布，横坐标为具有前进侧和后退侧的距焊缝中心线的距离，该距离对应于本申请中试样内部被测部位，其中0点两侧的正负方向对应于本申请中的被测方向。
由此可知，权利要求1要求保护的技术方案与对比文件3公开内容的区别技术特征在于：（1）设定X射线探测分析系统的能量分析器上下阈；设置仪器的管电压为所选重金属靶X射线管发出的短波长特征X射线Kα1激发电压的2～6倍；（2）选取试样的最强衍射峰或较强衍射峰对应的晶面(hkl)作为测试的衍射晶面；板状试样安装：将板材试样固定于样品台上并使得板材试样板面法线与入射的X射线平行，板材试样内部被测部位平移到衍射仪圆的圆心；（3）选择n个Ψ角，Ψ＝45°，Ψ2，…，Ψn-1，90°，n为大于1的正整数，依次测量对应的晶面的Kα系衍射谱，拟合衍射峰，定峰计算得到Kα1对应的各Ψ角的(hkl)晶面衍射谱的峰位。基于上述区别技术特征，权利要求1相对于对比文件3所实际解决的技术问题是：提高检测精度。
对于区别技术特征（1），对于本领域技术人员而言，使用单道分析器作为X射线衍射的能量分析器是本领域公知常识，这可由教科书《材料物理与化学实验教程》（潘春旭，中南大学出版社,2008年09月第1版，正文第205页）所证实；此外，教科书《医学影像设备学》（黄泉荣主编，北京：人民卫生出版社,2001年09月第1版，正文第403页）指出，分析器还分为单道分析器和多道分析器，单道分析器由上阈和下阈以及道宽组成，可用来选择具有一定能量范围的射线进行测量，并且多道分析器还能同时输入各种幅度脉冲。则在该公知技术启示下，当本领域技术人员使用特征X射线进行X射线衍射试验时，由于其具有单一波长和对应的单一能量，本领域技术人员容易想到使用上下阈进一步对其能量进行限定，排除干扰，提高检测精度，这是本领域的常规技术手段。对于管电压选激发电压的2-6倍，教科书《近代X射线多晶体衍射实验技术与数据分析》（马礼敦编著，北京：化学工业出版社, 2004年09月第1版，第102页）指出，在X射线衍射中，有时也要求使用如WKα等短波长单色X射线，这可以增加收集到的衍射峰的数目，已经知道，要得到高强度的特征辐射，应使用X射线管发射的特征辐射强度对连续的韧致辐射的强度的比值最大，使用于特征辐射相应的激发电压的3～5倍的高压最恰当，则在该公知技术启示下，本领域技术人员容易想到使用2～6倍，这是本领域的常规技术手段。因此，上述区别技术特征对本领域技术人员来说是显而易见的。
对于区别技术特征（2），由于对比文件3已经公开了Al{311}晶面（参见第30页，右栏），也就是本申请所述的作为测试的衍射晶面，而选取试样的最强衍射峰或较强衍射峰对应的晶面是本领域技术人员在X射线衍射实验时的一般规则，是本领域技术人员容易想到的常规技术手段。此外，与本申请同属于X射线衍射检测应力领域的对比文件2公开了过三维样品台的x,y,z平移运动,使得被测试部位位于衍射仪圆圆心（参见第26页左栏），在基础上本领域技术人员容易想到将板材试样固定于样品台上并使得板材试样板面法线与入射的X射线平行，这是本领域的常规技术手段。
对于区别技术特征（3），由于对比文件3（参见第30页，右栏）已经公开了使用sin2Ψ法测定铝合金FSW焊接残余应力，而根据本领域公知常识，sin2Ψ法需要测定多次，由于对比文件3（参见第30页，右栏）已经公开了透射法的角度取值范围，本领域技术人员能够根据需要选择具体的测试角度数值和次数，并根据拟合衍射峰，顶峰计算对应衍射谱的峰位，这是本领域技术人员的常规技术手段。
对于复审请求人答复复审通知书时陈述的意见，合议组认为：①虽然本领域有采用晶体单色器或滤波器选择Kα的做法，但是对比文件3中所选取的WKα线具有单一波长，并且该波长和本申请W的Kα1线波长（参见说明书第39段）相同，所以对比文件3并非使用复审请求人所述的常规方法，而是公开了权利要求1中使用W的Kα1线作为入射束。复审请求人认为对比文件3中波长为笔误，合议组不能认可。因为，波长某一位错误可以认可为笔误，但是六位波长均写错为笔误显然是违背常理的。并且如《近代X射线多晶体衍射实验技术与数据分析》（参见第102页）所述，在X射线衍射中使用如WKα等短波长单色X射线可以增加收集到的衍射峰的数目，并且当管电压为特征辐射相应的激发电压的3～5倍的高压时就可以获得这种高单色性特征辐射，其中单色X射线即只有一个波长的X射线。而且，本申请权利要求1步骤（1）中明确记载了以重金属靶X射线的短波长特征X射线Kα系进行检测，而申请文件中未记载的“白光入射……管的波粒二象性原理”的相关内容不能作为对权利要求保护范围的限制。②首先，权利要求1中并未限定通过上下阈的限制得到Kα1线的衍射峰能量。其次，如证据《材料物理与化学实验教程》正文第205页所述，使用单道分析器作为X射线衍射的能量分析器是本领域公知常识，此外，如证据《医学影像设备学》正文第403页所述，这种单道分析器由上阈和下阈以及道宽组成，可用来选择具有一定能量范围的射线进行测量。当本领域技术人员选用WKα1线进行X射线衍射实验时，能够想到使用上下阈进一步对接收的能量进行限定，排除干扰，提高检测精度。③对比文件3虽然没有给出衍射光路几何图，但是对比文件3在第30页右栏的公式参数定义中明确写出Ψ为板法向与衍射晶面法向之间的夹角，而且，指出了在测试过程中采用了透射法，也就是说对比文件3的技术方案中入射束和探测器及测角仪位于板状试样的两侧，因此对比文件3中的Ψ角定义清楚明确，其测试原理与本申请也相同。而且，虽然复审请求人提出，根据《理化检测一物理分册》2007年第43卷第7期，残余应力基本知识讲座的第四讲“X射线应力测定方法”所述，X射线应力测试包括五种具体测量方法，但是这些方法只是测量装置设置细节不同，它们仍采用相同的测试原理，而且除了固定Ψ0法外，其余测试方法的计算公式也都相同。由于本申请和对比文件3都只记载了计算公式和Ψ角的选择和透视测定方式，此外没有对具体的测试方法细分进行限定，所以无法构成权利要求1和对比文件3的区别。④本申请权利要求1中并未记载“衍射谱按衍射角2θ展开的角度分辨X射线衍射＋衍射谱按光子能量展开的能量色散X射线衍射的混合方式”，因此无法构成本申请与现有技术间的区别技术特征，也无法体现出本申请的独创性。⑤如教科书《表面残余应力检测技术》（王海斗，北京：机械工业出版社,2013年09月第1版，第80页）所述，材料残余应力的测试过程中，使用多波长法，利用不同特征X射线在材料中穿透深度差异而获得不同深度衍射信息，从而测定出不同深度的加权平均应力是本领域公知常识。而且如教科书《医学影像设备学》（黄泉荣主编，北京：人民卫生出版社,2001年09月第1版，第403页）所述，分析器还包括多道分析器，多道分析器还能同时输入各种幅度脉冲，可以同时输入各种幅度脉冲，由各相应的“道”进行记录。在此基础上，同时运用WKα1和WKα2两个特征X射线，并基于WKα1强度为WKα2的两倍，采取对比文件3所述测定同一晶面衍射谱的技术方案，计算得到各Ψ角对应峰位，并通过公式计算、加权平均得到应力值是本领域技术人员的常规技术手段。因此，复审请求人的意见陈述不能被接受。
由此可见，在对比文件3的基础上结合对比文件2和本领域的常用技术手段得出该权利要求要求保护的技术方案，对本领域技术人员来说是显而易见的，因此该权利要求要求保护的技术方案不具有突出的实质性特点和显著的进步，因而不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
2、从属权利要求2-5不具备创造性
从属权利要求2对权利要求1的步骤（8）进行了进一步限定。其附加技术特征是本领域技术人员的常规技术手段。因此，在其引用的权利要求1不具备创造性的基础上，该权利要求2不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
从属权利要求3引用权利要求1或2。对比文件2记载了测定待测样品相应厚度部位各测试方向的衍射谱（参见第27页右栏，第3.1节第4段），对应于本申请中所需测试应力的方向为板状试样面内任意方向。在其引用的权利要求1、2不具备创造性的基础上，该权利要求3不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
从属权利要求4引用权利要求1或2，对比文件3公开了但在实际测试中由于铝合金晶粒粗大，为了提高统计性，将样品台沿特定方向做往复运动从而使更多的晶粒参与衍射，往复运动的振幅和晶粒尺寸有关，所以实际测试的残余应力结果是衍射体积在往复运动过程中所扫过的整个衍射体积内残余应力的平均值（参见第30页左栏）。在其引用的权利要求1、2不具备创造性的基础上，该权利要求4不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
从属权利要求5引用权利要求1或2，根据本领域公知常识，sin2Ψ法需要测定多次，而按照等角度间距选取，或在sin2Ψ＝0.5～1范围内按照sin2Ψ值等间距选取，是本领域技术人员的常规技术手段在其引用的权利要求1、2不具备创造性的基础上，该权利要求5不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
综上所述，本申请权利要求1-5不符合专利法第22条第3款关于创造性的规定。
在上述程序的基础上，合议组依法作出如下复审决定。
三、决定
维持国家知识产权局于2018年04月16日对本申请作出的驳回决定。
如对本复审请求审查决定不服，根据专利法第41条第2款的规定，复审请求人可以自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
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