发明创造名称：光子计数X-射线探测器
外观设计名称：
决定号：181454
决定日：2019-06-14
委内编号：1F261619
优先权日：2012-12-04
申请（专利）号：201380063157.2
申请日：2013-11-20
复审请求人：皇家飞利浦有限公司
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：尉小霞
合议组组长：孙晓明
参审员：李璟
国际分类号：G01T1/24
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第3款
决定要点
：如果一项权利要求请求保护的技术方案相对于作为最接近现有技术的对比文件存在区别技术特征，该区别技术特征既没有被其他对比文件公开，目前也没有证据表明其为本领域的公知常识，且该区别技术特征使得该权利要求的技术方案具有预料不到的技术效果，则该权利要求具备创造性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201380063157.2，名称为“光子计数X-射线探测器”的PCT发明专利申请(下称本申请)。申请人为皇家飞利浦有限公司。本申请的申请日为2013年11月20日，优先权日为2012年12月04日，进入中国国家阶段日为2015年06月03日，公开日为2015年08月12日。
经实质审查，国家知识产权局专利实质审查部门于2018年07月05日发出驳回决定，驳回了本申请。其理由是：权利要求1-9、12-16、19不具备专利法第22条第3款规定的创造性。驳回决定中引用了如下对比文件：
对比文件1：US5821539A， 公开日为1998年10月13日；
对比文件2：CN101006362A， 公开日为2007年07月25日；
对比文件3：US6218668B1， 公开日为2001年04月17日。
驳回决定所依据的文本为：2018年03月23日提交的权利要求第1-19项，2015年06月03日进入中国国家阶段时提交的国际申请文件中文译文的说明书附图第1-5页、说明书摘要以及摘要附图，按照条约第28或41条修改的说明书第1-10页。驳回决定所针对的权利要求书如下：
“1. 一种光子计数X-射线探测器单元包括：
-光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，
-阴极电极(11、21、31)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X-射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，
-像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)，其中，所述像素化阳极电极(12)被配置用于耦合到读出单元(14)，所述读出单元用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号，
-电源(13)，其用于在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，并且所述电源用于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压，
其中，所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阳极电极(12)与所述阴极电极(11、21、31)之间施加的偏置电压而使电荷载子从所述阴极电极(11、21、31)朝向所述阳极电极(12)漂移，并且所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时注入电荷载子。
2. 根据权利要求1所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)每个包括多个平行电极条带(11c、11d；21c、21d)，其中，平行交替布置所述相互交叉的阴极元件的所述电极条带。
3. 根据权利要求2所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述 电极条带(21c、21d)包括尖端(21e)，所述尖端沿着所述电极条带布置。
4. 根据权利要求3所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述尖端(21e)以规则的间隔沿着所述电极条带(21c、21d)布置。
5. 根据权利要求4所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，相邻电极条带(21c、21d)的所述尖端(21e)被布置为彼此相对。
6. 一种光子计数X-射线探测器包括：
根据权利要求1所述的光子计数X-射线探测器单元，以及
-读出单元(14)，其用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号。
7. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加间歇性电压脉冲或连续电压波信号。
8. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，还包括控制单元(15)，所述控制单元用于通过所述电源(13)来控制对所暂时施加的注入电压的施加。
9. 根据权利要求8所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置用于控制被施加作为注入电压的间歇性电压脉冲的脉冲时间、形状、占空比、重复频率和/或电压幅度。
10. 根据权利要求8或9所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置为基于电子从所述阴极电极移动到所述阳极电极的飞行时间漂移时间测量结果来控制所暂时施加的注入电压的脉冲时间、形状、占空比、重复频率和/或电压幅度。
11. 根据权利要求8或9所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置为控制所述电源(13)和所述读出单元(14)以在对所暂时施加的注入电压的施加期间通过禁用所述读出单元(14)使通过所述电源(13)对所暂时施加的注入电压的施加与对来自所述像素化阳极电极(12)的电信号的读出同步。
12. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)包括
-感应单元(130)，其包括初级线圈(131)和次级线圈(132)，所述初级线圈耦合在所述两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间，
-DC电压源(133)，其用于向所述初级线圈(131)施加所述偏置电压，以及
-电流源(134)，其用于向所述次级线圈(132)暂时施加间歇性电流信号，以在所述初级线圈(131)的两端生成所述暂时施加的注入电压。
13. 根据权利要求12所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述间歇性电流信号是电流脉冲。
14. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为以交替极性在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加所述注入电压。
15. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为在预定的最大时间之后施加注入电压。
16. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述阴极电极(11、21、31)包括多个阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，其中，分别使两个阴极元件(11a、 11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)相互交叉，并且
其中，所述电源(13)被配置为向相互交叉的阴极元件对选择性地暂时施加注入电压。
17. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述读出单元(14)被配置为取决于所述暂时施加的注入电压的参数而校正读出的电信号。
18. 根据权利要求17所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述暂时施加的注入电压的参数是暂时施加的注入电压的计时和持续时间。
19. 一种光子计数X-射线探测方法包括：
-使光子计数X-射线探测器单元(3)经受入射X-射线辐射，所述入射X-射线辐射导致响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，所述光子计数X-射线探测器单元包括
光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，
阴极电极(11、21、31)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X-射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，以及
像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)，
-在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，
-在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压，并且
-读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号。”
驳回决定中指出：1）权利要求1、权利要求6、权利要求19与对比文件1的区别均为：阳极电极为像素化阳极电极。对比文件2公开了该区别技术特征，且给出了与对比文件1结合的技术启示。因此，权利要求1、权利要求6、权利要求19相对于对比文件1和对比文件2的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。2）从属权利要求2-5、7-9、12-16的附加技术特征或被对比文件1公开，或被对比文件3公开且给出了结合启示，或为公知常识。因此，当其引用的权利要求不具备创造性时，从属权利要求2-5、7-9、12-16也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
申请人（下称复审请求人）对上述驳回决定不服，于2018年09月26日向国家知识产权局提出了复审请求，并提交了权利要求书的全文修改替换页。修改涉及：将权利要求1中的“电源(13)，其用于在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，并且所述电源用于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压”删除，并增加了“其中，所述偏置电压和所述暂时施加的注入电压是由电源（13）施加的”，将权利要求1中的“注入电荷载子”修改为“注入所述电荷载子”；在权利要求6中增加了“电源(13)，其用于在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，并且所述电源用于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压”。此次提交的权利要求书如下：
“1. 一种光子计数X-射线探测器单元包括：
-光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，
-阴极电极(11、21、31)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X-射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，
-像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)，其中，所述像素化阳极电极(12)被配置用于耦合到读出单元(14)，所述读出单元用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号，
其中，所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阳极电极(12)与所述阴极电极(11、21、31)之间施加的偏置电压而使电荷载子从所述阴极电极(11、21、31)朝向所述阳极电极(12)漂移，并且所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时注入所述电荷载子，其中，所述偏置电压和所述暂时施加的注入电压是由电源(13)施加的。
2. 根据权利要求1所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)每个包括多个平行电极条带(11c、11d；21c、21d)，其中，平行交替布置所述相互交叉的阴极元件的所述电极条带。
3. 根据权利要求2所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述电极条带(21c、21d)包括尖端(21e)，所述尖端沿着所述电极条带布置。
4. 根据权利要求3所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，所述尖端(21e)以规则的间隔沿着所述电极条带(21c、21d)布置。
5. 根据权利要求4所述的光子计数X-射线探测器单元，其中，相邻电极条带(21c、21d)的所述尖端(21e)被布置为彼此相对。
6. 一种光子计数X-射线探测器包括：
-根据权利要求1所述的光子计数X-射线探测器单元，
-电源(13)，其用于在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，并且所述电源用于在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压，以及
-读出单元(14)，其用于读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号。
7. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加间歇性电压脉冲或连续电压波信号。
8. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，还包括控制单元(15)，所述控制单元用于通过所述电源(13)来控制对所暂时施加的注入电压的施加。
9. 根据权利要求8所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置用于控制被施加作为注入电压的间歇性电压脉冲的脉冲时间、形状、占空比、重复频率和/或电压幅度。
10. 根据权利要求8或9所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置为基于电子从所述阴极电极移动到所述阳极电极的飞行时间漂移时间测量结果来控制所暂时施加的注入电压的脉冲时间、形 状、占空比、重复频率和/或电压幅度。
11. 根据权利要求8或9所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述控制单元(15)被配置为控制所述电源(13)和所述读出单元(14)以在对所暂时施加的注入电压的施加期间通过禁用所述读出单元(14)使通过所述电源(13)对所暂时施加的注入电压的施加与对来自所述像素化阳极电极(12)的电信号的读出同步。
12. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)包括
-感应单元(130)，其包括初级线圈(131)和次级线圈(132)，所述初级线圈耦合在所述两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间，
-DC电压源(133)，其用于向所述初级线圈(131)施加所述偏置电压，以及
-电流源(134)，其用于向所述次级线圈(132)暂时施加间歇性电流信号，以在所述初级线圈(131)的两端生成所述暂时施加的注入电压。
13. 根据权利要求12所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述间歇性电流信号是电流脉冲。
14. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为以交替极性在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加所述注入电压。
15. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述电源(13)被配置为在预定的最大时间之后施加注入电压。
16. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述阴极电极(11、21、31)包括多个阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、 31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，其中，分别使两个阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)相互交叉，并且
其中，所述电源(13)被配置为向相互交叉的阴极元件对选择性地暂时施加注入电压。
17. 根据权利要求6所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述读出单元(14)被配置为取决于所述暂时施加的注入电压的参数而校正读出的电信号。
18. 根据权利要求17所述的光子计数X-射线探测器，其中，所述暂时施加的注入电压的参数是暂时施加的注入电压的计时和持续时间。
19. 一种光子计数X-射线探测方法包括：
-使光子计数X-射线探测器单元(3)经受入射X-射线辐射，所述入射X-射线辐射导致响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，所述光子计数X-射线探测器单元包括
光子计数半导体元件(10)，其用于响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对，
阴极电极(11、21、31)，其被布置在所述半导体元件(10)面向激发的X-射线辐射的第一侧(10a)，所述阴极电极包括两个相互交叉的阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)，以及
像素化阳极电极(12)，其被布置在所述半导体元件(10)与所述第一侧(10a)相对的第二侧(10b)，
-在所述阴极电极与所述阳极电极之间施加偏置电压，
-在所述阴极元件(11a、11b；21a、21b；31a、31b、31c、31ac、31d；41a、41b；51a、51b)之间暂时施加注入电压，并且
-读出来自所述像素化阳极电极(12)的电信号。”
复审请求人认为： 1）“暂时”不仅是对注入电压的限定，还是对光子计数X-射线探测器单元如何注入电荷载子的限定，其能够限定权利要求1的光子计数X-射线探测器单元的保护范围。对比文件1公开了在第一电极和注入电子之间提供恒定电压，该恒定电压不可能引发如权利要求1中限定的对电荷载子的暂时注入。因此，对比文件1没有公开权利要求1中的特征“所述电子技术X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件之间暂时注入所述电荷载子，其中，所述偏置电压和所述暂时施加的注入电压是由电源施加的”；对比文件1在第一电极和第二电子之外单独设置注入电极，并没有教导如本申请权利要求1限定的，将用于测量信号的阴极电极设置为包括两个相互交叉的阴极元件，并且通过直接在阴极元件中施加电压来解决极化问题。2）对比文件2公开了一种辐射探测器封装，其包括辐射敏感固态元件，该辐射敏感固态元件具有设置在固态元件的相对主表面上的第一电极和像素化第二电极，其没有公开权利要求1的上述技术特征；对比文件3公开了具有单个电极读出的共平面相互交叉栅极检测器，虽然其提到了两个相互交叉的阴极元件，但是并没有提到响应于在所述阴极元件之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件之间暂时注入电荷载子。因此，权利要求1及其从属权利要求2-5具备创造性。基于相同的理由独立权利要求6及其从属权利要求7-18、独立权利要求19具备创造性。
经形式审查合格，国家知识产权局于2018年10月15日依法受理了该复审请求，并将其转送至原专利实质审查部门进行前置审查。
原专利实质审查部门在前置审查意见书中坚持驳回决定。
随后，国家知识产权局成立合议组对本案进行审理。
在上述程序的基础上，合议组认为本案事实已经清楚，可以作出审查决定。
二、决定的理由
（一）审查文本的认定
复审请求人在2018年09月26日提出复审请求时提交了权利要求书的全文修改替换页，经查，该修改符合专利法第33条的规定。本复审请求审查决定所针对的文本为：2018年09月26日提交的权利要求第1-19项，2015年06月03日进入中国国家阶段时提交的国际申请文件中文译文的说明书附图第1-5页、说明书摘要以及摘要附图，按照条约第28或41条修改的说明书第1-10页。
（二）关于专利法第22条第3款
专利法第22条第3款规定：创造性，是指与现有技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求请求保护的技术方案相对于作为最接近现有技术的对比文件存在区别技术特征，该区别技术特征既没有被其他对比文件公开，目前也没有证据表明其为本领域的公知常识，且该区别技术特征使得该权利要求的技术方案具有预料不到的技术效果，则该权利要求具备创造性。
1、权利要求1请求保护一种光子计数X-射线探测器，对比文件1也公开了一种光子计数X射线探测器单元（参见说明书第2栏第10-31行），并具体公开了：图1示出了一个具有半导体元件1（相当于光子计数半导体元件）的探测器，所述半导体元件1是由薄层压缩制成的厚度为d的P-CdTe，半导体元件1用于响应于入射X-射线光子而生成电子-空穴对（参见说明书第4栏第32-34行及图1）；第一电极2和注入电极3（电极2和3相当于阴极电极）被布置在半导体元件1面向入射X射线辐射的第一侧（参见说明书第4栏35-38行），所述第一电极2和注入电极3分别为条状的电极，且彼此相互交叉（如图2a所示）；第二电极4被布置在半导体元件1与第一侧相对的第二侧（参见说明书第4栏第45-48行及图1）；如图1所示，测量仪器9连接平行的电极2和4，第二电极被配置用于耦合到读出单元，所述读出单元用于读出来自所述第二电极的电信号；第二电极接地，电节点7为注入电极提供-45V的偏置电压，电节点8为第一电极提供-50V的偏置电压，施加于注入电极3的注入电压相对于接地零电位的施加于第一电极2的操作电压低10%，一旦电极位于所提到的电位，电子就被注入电极3注入半导体本体1中，吸收的X射线光子在半导体元件1中生成电子-空穴云，由于电场的存在，电子朝向第二电极移动（即公开了所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阳极电极与所述阴极电极之间施加的偏置电压而使电荷载子从所述阴极电极朝向所述阳极电极漂移，并且所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件之间施加的注入电压而在所述阴极元件之间注入电荷载子）。
驳回决定认为：对比文件1隐含公开了：所述电源用于在所述阴极元件之间暂时施加注入电压，所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件之间暂时注入电荷载子。
前置审查意见书中认为：“暂时”对装置不具有限定作用。
对此，合议组认为：“暂时”是有限定作用的，其限定了光子技术X-射线探测器单元的阴极电极被施加的是暂时施加的注入电压，故通过阴极的注入电荷载子也是暂时注入的，也就是说，“暂时”是对阴极电极所施加的电压、注入的电荷载子的进一步限定，具有限定作用。且由对比文件1所公开内容可知：对比文件1并没有公开该技术特征。
因此，该权利要求与对比文件1公开的内容相比，其区别技术特征为：1）所述阳极电极为像素化阳极电极。2）所述光子计数X-射线探测器单元被配置为响应于在所述阴极元件之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件之间暂时注入所述电荷载子，其中，所述偏置电压和所述暂时施加的注入电压是由电源施加的。
对于区别技术特征1），对比文件2公开了一种固态辐射探测器封装计数，其中涉及到了探测器的像素化设计，具体公开如下（参见说明书第4页倒数第1和2段及附图1-6）：辐射探测器组件8包括CZT、CdTe或HgI辐射敏感固态元件10（相当于半导体元件），其具有设置在该固态元件接收主侧上的阴极电极12和设置在与辐射接收侧相对的辐射敏感固态元件10的第二主侧上的像素化阳极14，电子线路板20（相当于读出单元）响应于入射到辐射敏感固态元件的辐射接收来自固态元件的电信号；操作时，相对于像素化阳极14对阴极12施加负偏压，当辐射粒子被辐射敏感固态元件10吸收时，生产电子-空穴对等离子体，且电子和空穴分别被扫向阳极14和阴极12，以产生代表辐射粒子的探测器电流，通过使阳极14像素化，辐射粒子吸收事件可在探测器面上空间局域化，阳极像素或小的多个阳极像素传导探测器电流。由此可见，对比文件2公开了区别技术特征1）并给出了相应的技术启示。
对于区别技术特征2），虽然对比文件1公开了通过注入电极3来注入电荷以解决半导体元件中引起的空穴陷阱来解决探测器的极化问题，但是其并没有公开对注入电极暂时施加注入电压而暂时注入电荷，也没有给出任何的暂时施加电压以暂时注入电荷的技术启示。本领域技术人员在对比文件1公开内容的基础上不会想到要暂时施加电压以暂时注入电荷载子的技术方案。由上述对比文件2公开的内容可知，对比文件2也没有公开上述区别技术特征2）也没有给出任何的技术启示。对比文件3公开了一种电离检测器（参见说明书第5栏），电极包括一个放置在探测器一侧的接触电极21和一对放置在另一侧的相互交叉的栅极22和23，栅极22具有三个条带形的元件22a,22b,22c，栅极23具有三个条带形的元件23a,23b,23c。由此可见，对比文件3虽然公开了两个相互交叉的阴极元件，但是并没有公开响应于在所述阴极元件之间暂时施加的注入电压而在所述阴极元件之间暂时注入电荷载子。总之，对比文件1-3均没有公开上述区别技术特征2），目前也没有证据表明上述区别技术特征2）属于本领域的公知常识，且该区别技术特征2）使得该权利要求1的技术方案能够可靠地并有效地获得在高通量条件下对极化的抑制，能够增大光子计数结果的准确度，具有有益的技术效果。因此，权利要求1具备专利法第22条第3款规定的创造性。
2、独立权利要求6包括了权利要求1的光子技术X-射线探测器单元，因此，基于与权利要求1相同的理由，权利要求6具备专利法第22条第3款规定的创造性。
3、权利要求19请求保护一种光子计数X-射线探测方法，对比文件1也公开了一种光子技术X-射线探测方法（参见同上）。由上述对权利要求1的评述可知。权利要求19与对比文件1的区别技术特征为：1）所述阳极电极为像素化阳极电极。2）在所述阴极元件之间暂时施加注入电压。区别技术特征1）-2）的评述参见权利要求1的评述。因此，基于与权利要求1相同的理由，权利要求19也具备专利法第22条第3款规定的创造性。
4、从属权利要求2-5直接或间接引用了权利要求1，从属权利要求7-9、12-16直接或间接引用了权利要求6，因此，从属权利要求2-5、7-9、12-16也具备专利法第22条第3款规定的创造性。
三、决定
撤销国家知识产权局于2018年07月05日对本申请作出的驳回决定。由国家知识产权局原专利实质审查部门在本复审请求审查决定所针对的文本的基础上对本申请继续进行审查。
如对本复审请求审查决定不服，根据专利法第41条第2款的规定，复审请求人可以自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
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