发明创造名称：屏体检测结构及检测方法
外观设计名称：
决定号：180841
决定日：2019-06-13
委内编号：1F255964
优先权日：
申请（专利）号：201510018770.3
申请日：2015-01-15
复审请求人：昆山国显光电有限公司
无效请求人：
授权公告日：
审定公告日：
专利权人：
主审员：李晓惠
合议组组长：何晓兰
参审员：苗文
国际分类号：G01R31/02;G09G3/00
外观设计分类号：
法律依据：专利法第22条第3款
决定要点
：如果一项权利要求请求保护的技术方案与作为现有技术的对比文件相比存在区别技术特征，但是，该区别技术特征部分被另一篇对比文件公开，部分是本领域的常规设计，则该权利要求请求保护的技术方案相对于该两篇对比文件和本领域常规设计的结合不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
全文：
本复审请求涉及申请号为201510018770.3，名称为“屏体检测结构及检测方法”的发明专利申请（下称本申请）。本申请的申请日为2015年01月15日，公开日为2015年05月20日。申请人为昆山国显光电有限公司。
经实质审查，国家知识产权局原实质审查部门于2018年04月02日作出驳回决定，驳回了本申请，其理由是：权利要求第1-10项不符合专利法第22条第3款关于创造性的规定。
驳回决定中引用了如下2篇对比文件：
对比文件1：CN 102621721A，公开日为2012年08月01日；
对比文件2：CN 203037760U，授权公告日为2013年07月03日。
驳回决定所依据的文本为：申请人于申请日2015年01月15日提交的说明书第1-45段、说明书附图图1-3、说明书摘要、摘要附图、权利要求第1-10项。
驳回决定所针对的权利要求书如下：
“1. 一种屏体检测结构，包括承载台及压头，所述压头与承载台相对设置且位于所述承载台上方，其特征在于，所述压头包括屏体压头和模组压头，所述屏体压头用于将一屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，所述模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。
2. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头还包括一顶板，所述屏体压头和模组压头设置于所属顶板上并朝向所述承载台。
3. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述屏体压头包括两部分，分列于所述模组压头两侧。
4. 如权利要求3所述的屏体检测结构，其特征在于，所述模组压头与屏体压头之间存在小于2mm的间隙。
5. 如权利要求4所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头还包括一模组压头微调器，以调整模组压头的位置。
6. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头与承载台能够相对运动，所述屏体检测结构还包括一承载台微调器，用以调整承载台的位置。
7. 一种屏体检测方法，其特征在于，包括：
提供如权利要求1-6中任意一项所述的屏体检测结构；
将待测屏体放置于所述承载台上；
通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；
通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备；
分析检测结果，判断所述待测屏体是否正常。
8. 如权利要求7所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第二检测设备包括计算机，通过结合检测卡进行检测。
9. 如权利要求7所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第二检测设备为检测芯片或单片机。
10. 如权利要求9所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第一检测设备为信号产生器。”
驳回决定认为，权利要求1与对比文件1相比的区别技术特征为：屏体检测的具体结构。区别技术特征部分被对比文件2公开，部分是本领域技术人员容易想到的。因此，权利要求1相对于对比文件1、2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求2-6的附加技术特征或被对比文件1、2公开，或为本领域的公知常识，因而也不具备创造性。
权利要求7与对比文件1相比的区别技术特征为：1）将待测屏体放置于检测装置的承载台上；2）实施屏体检测和模组检测的具体方法。区别技术特征（1）为本领域的公知常识；区别技术特征（2）部分被对比文件2公开，部分是本领域技术人员容易想到的。因此，权利要求7相对于对比文件1、2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求8-10的附加技术特征为本领域的惯用技术手段，因而也不具备创造性。
申请人昆山国显光电有限公司 （下称复审请求人）对上述驳回决定不服，于2018年07月13日向国家知识产权局提出了复审请求，同时提交了权利要求书的全文修改替换页，其中将权利要求3的附加技术特征加入权利要求1中，删除权利要求3，并相应地修改了权利要求的编号和引用关系。修改后的权利要求书如下：
“1. 一种屏体检测结构，包括承载台及压头，所述压头与承载台相对设置且位于所述承载台上方，其特征在于，所述压头包括屏体压头和模组压头，所述屏体压头包括两部分，分列于所述模组压头两侧，所述屏体压头用于将一屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，所述模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。
2. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头还包括一顶板，所述屏体压头和模组压头设置于所属顶板上并朝向所述承载台。
3. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述模组压头与屏体压头之间存在小于2mm的间隙。
4. 如权利要求3所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头还包括一模组压头微调器，以调整模组压头的位置。
5. 如权利要求1所述的屏体检测结构，其特征在于，所述压头与承载台能够相对运动，所述屏体检测结构还包括一承载台微调器，用以调整承载台的位置。
6. 一种屏体检测方法，其特征在于，包括：
提供如权利要求1-5中任意一项所述的屏体检测结构；
将待测屏体放置于所述承载台上；
通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；
通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备；
分析检测结果，判断所述待测屏体是否正常。
7. 如权利要求6所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第二检测设备包括计算机，通过结合检测卡进行检测。
8. 如权利要求6所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第二检测设备为 检测芯片或单片机。
9. 如权利要求8所述的屏体检测方法，其特征在于，所述第一检测设备为信号产生器。”
复审请求人认为：（1）对比文件1实际上并未公开屏体检测结构，即具体结构在对比文件1中没有披露。对比文件1中公开的是一种液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因，这里液晶模组（液晶面板）相当于被检测结构，而厘清其画面不良的原因属于方法，并非结构，而本申请权利要求1的技术方案则是检测结构。（2）对比文件2要解决的技术问题是：如何对连接材料进行选择。从而技术效果是：提高点亮效率，节省成本。上述区别技术特征在本申请中的作用具体体现在可以有效地检测出屏体是否正常，保证检测出的屏体的准确率，并且有效避免漏检的情况，降低浪费。比较可知，对比文件2中上述结构的作用并不同于本申请中实现屏体检测结构更有效的作用。由于对比文件1和对比文件2的目的不一致，作用也不同，本领域技术人员不可能想到将对比文件1和对比文件2结合，更遑论如何对对比文件2进行调整了。
经形式审查合格，国家知识产权局于2018年07月24日依法受理了该复审请求，并将其转送至原实质审查部门进行前置审查。
原审查部门在前置审查意见书中坚持原驳回决定。
随后，国家知识产权局会成立合议组依法对本案进行审理。
合议组于2019年02月14日向复审请求人发出复审通知书，指出：权利要求1与对比文件1相比的区别技术特征为：对比文件1中的屏体检测线与待测屏体的屏体检测端电连接，模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接；然而，本申请权利要求1中屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，模组检测线与待测屏体的模组检测端压接，且所述压接是通过承载台以及包括屏体压头和模组压头的压头实现的，所述压头与承载台相对设置且位于承载台上方，屏体压头包括两部分，分列于模组压头两侧。上述区别技术特征部分被对比文件2公开，部分为本领域的常规设计。因此，权利要求1相对于对比文件1、2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求2-5的附加技术特征或被对比文件2公开，或为本领域的常规手段，因而也不具备创造性。
权利要求6与对比文件1相比的区别技术特征为：对比文件1中的屏体检测线与待测屏体的屏体检测端电连接，模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接；然而，本申请权利要求6中将待测屏体放置于所述承载台上，通过屏体压头将屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，通过模组压头将模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。上述区别技术特征部分被对比文件2公开，部分为本领域的常规设计。因此，权利要求6相对于对比文件1、2以及本领域公知常识的结合不具备专利法第22条第3款规定的创造性。从属权利要求7-9的附加技术特征均为本领域的常规选择，因而也不具备创造性。
针对复审请求人的意见，合议组认为：（1）参见对比文件1附图3，液晶模组包括硬质电路板、软质电路板和待测液晶面板，该液晶模组通过硬质电路板和软质电路板完成了对待测液晶面板的屏体检测，因而该液晶模组相当于本申请权利要求1中的屏体检测结构。权利要求1中的屏体检测结构与对比文件1中的屏体检测结构的区别在于，权利要求1中的屏体检测结构还包括用于压接检测端和检测线的承载台和压头以保证检测端和检测线的良好导通。（2）基于权利要求1与对比文件1的区别特征可以确定，权利要求1相对于对比文件1来说实际解决的技术问题是如何保证检测时的良好导通。对比文件2公开了“印刷电路板1、连接装置3及显示屏2的覆晶薄膜21设置于压块41压接面与压接平台42之间，这里的压块采用亚克力材料制成，可以在压块的下端面设置一凸起的压接平面，通过挤压配重块44使压块41更好地对软性电路板进行挤压，实现各线路的准确连接，使点亮效率更高”，即对比文件2给出了通过压块对软性电路板的挤压实现各线路的准确连接的技术启示。因此，本领域技术人员在面对如何保证检测时的良好导通的技术问题时，容易想到使用对比文件2中的压块结构对对比文件1中的软性电路板进行压接以保证检测端和检测线的准确良好连接，而将对比文件2中的压接结构用于对比文件1中时对该压接结构所作的适应性修改是本领域的常规设计。因此，复审请求人的意见合议组不予支持。
针对上述复审通知书，复审请求人于2019年03月14日提交了意见陈述书以及权利要求书的全文修改替换页。其中，在权利要求1中增加技术特征“其中，通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备”；将权利要求6中的技术特征“通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备”修改为“在第一阶段，通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；在第二阶段，通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备”。修改后的权利要求1和6如下：
“1. 一种屏体检测结构，包括承载台及压头，所述压头与承载台相对设置且位于所述承载台上方，其特征在于，所述压头包括屏体压头和模组压头，所述屏体压头包括两部分，分列于所述模组压头两侧，所述屏体压头用于将一屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，所述模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接，其中，
通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；
通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备。
6. 一种屏体检测方法，其特征在于，包括：
提供如权利要求1-5中任意一项所述的屏体检测结构；
将待测屏体放置于所述承载台上；
在第一阶段，通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测，所述屏体检测线的另一端连接至第一检测设备；
在第二阶段，通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测，所述模组检测线的另一端连接至第二检测设备；
分析检测结果，判断所述待测屏体是否正常。”
复审请求人认为：（1）低压差分信号接口408用于输入液晶面板30的驱动信号，而且驱动信号依次经过组立和模组两个制程形成的电路和结构，可见，对比文件1中驱动信号经模组制程形成的电路和组立制程形成的电路即信号串行模式，模组制程形成的电路部分不能单独测试。而修改后的权利要求1的方案中屏体检测端与模组检测端可以并行模式进行，模组线路检测时不依赖于屏体线路检测，屏体检测端与模组检测端可分别独立进行测试。因此，对比文件1中指出的“液晶面板上的低压差分信号接口408”不能相当于修改后的权利要求1中“待测屏体的模组检测端”，对比文件1中指出的“软质电路板50上的检测线”不能相当于修改后的权利要求1中“模组检测线”，修改后的权利要求1中所提及的“模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接”并没有被公开。（2）对比文件2中公开的屏体检测装置是针对显示屏2和印刷PCB作为一个整体看最终显示屏是否点亮，没有区分屏体（屏体线路）或模组（模组线路）检测，而且压头41仅有一个，而修改后的权利要求1是所述压头包括屏体压头和模组压头，是根据要分别独立测试屏体（屏体线路）和模组（模组线路）而设置的。可见，对比文件2即使给出启示，也只给出压块压接的启示，而并未给出“所述压头包括屏体压头和模组压头，所述屏体压头包括两部分，分列于所述模组压头两侧”的启示。对比文件2要解决的技术问题是：如何对连接材料进行选择。从而技术效果是：提高点亮效率，节省成本。上述区别技术特征在本申请中的作用具体体现在可以有效地检测出屏体是否正常，保证检测出的屏体的准确率，并且有效避免漏检的情况，降低浪费。比较可知，对比文件2中上述结构的作用并不同于本申请中实现屏体检测结构更有效的作用。
在上述程序的基础上，合议组认为本案事实已经清楚，依法作出如下审查决定。
二、决定的理由
（一）、审查文本的认定
在复审程序中，复审请求人分别于2018年07月13日和2019年03月14日提交了权利要求书的全文修改替换页，经审查，上述修改文本符合专利法第33条和专利法实施细则第61条第1款的规定，因此本复审决定所针对的文本为：复审请求人于申请日2015年01月15日提交的说明书第1-45段、说明书附图图1-3、说明书摘要、摘要附图以及于2019年03月14日提交的权利要求第1-9项。
（二）、关于专利法第22条第3款
专利法第22条第3款规定：创造性，是指与现有技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。
如果一项权利要求请求保护的技术方案与作为现有技术的对比文件相比存在区别技术特征，但是，该区别技术特征部分被另一篇对比文件公开，部分是本领域的常规设计，则该权利要求请求保护的技术方案相对于该两篇对比文件和本领域常规设计的结合不具有突出的实质性特点和显著的进步，不具备创造性。
1.权利要求1不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
独立权利要求1请求保护一种屏体检测结构，对比文件1公开了一种液晶模组，与本申请同属于液晶检测技术领域，并具体公开了以下技术特征（参见说明书第25-78段、附图1-5）： 本实施例的液晶模组，一方面通过在硬质电路板40上设置与液晶面板30的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点对应的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点，并通过软质电路板50使它们对应电连接，从而可以通过给硬质电路板 40上的测试点施加相应的信号电压，所述信号电压通过组立制程工艺的短路棒区域的测试引线驱动液晶面板30的显示，即可进行液晶面板30 的画面检测。另一方面，还可以通过硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的驱动信号以驱动液晶面板30的显示，两条测试通路的分别测试，在测试出问题时可以判断出是哪个阶段的制程问题(具体过程和原理见下面“厘清液晶模组画面不良的原因的方法”的描述)。也就是说，通过本实施例的液晶模组，能够实现在产品画面出现不良时，厘清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，从而有助于进行画面不良的改进（参见说明书第55段）。
步骤101：在硬质电路板上的低压差分信号接口输入液晶面板所需的第一测试信号，使所述第一测试信号通过第一通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示。在液晶显示器中，低压差分信号接口电路包括两部分，即驱动板侧的低压差分信号输出接口电路和液晶面板侧的低压差分信号输入接口电路。在完成液晶模组制程后，需要对液晶面板30进行画面检测。可在硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的第一测试信号，该测试信号通过低压差分信号接口电路进入液晶面板30，以驱动液晶面板30显示，实现液晶面板30的画面检测。步骤102：在液晶面板显示不良时，终止在所述低压差分信号接口输入第一测试信号。步骤103：使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示。第二通路由硬质电路板40的第二测试点(未标示)通过软质电路板50与液晶面板30的第一测试点(未标示)电连接形成。具体地，硬质电路板40的第二测试点包括第二扫描信号测试点 600’、第二控制信号输入点401、第二公共电极测试点404以及第二数据信号测试点700’。液晶面板30第一测试点包括第一扫描信号测试点 600、第一控制信号输入点301、第一公共电极测试点304以及第一数据信号测试点700。由于液晶面板30在组立制程中未切断短路棒区域的测试引线，因此，在硬质电路板40的401～407测试点输入液晶面板30所需的第二测试信号后，测试信号可通过液晶面板30的301～307测试点进入液晶面板30，使液晶面板30点亮以检测画面。步骤104：判断输入所述第二测试信号后液晶面板是否显示不良，若显示不良则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷，否则判断为液晶模组制程造成的缺陷（参见说明书第57-66段）。
由对比文件1公开的上述内容可知：
通过该液晶模组，能够实现在产品画面出现不良时，理清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，因此，该液晶模组相当于屏体检测结构。
由于液晶面板30在组立制程中未切断短路棒区域的测试引线，因此，在硬质电路板40的第二测试点输入液晶面板30所需的第二测试信号后，测试信号可通过软质电路板50和液晶面板30的第一测试点进入液晶面板30，使液晶面板30点亮以检测画面。即液晶面板30的第一测试点通过软质电路板50与硬质电路板40的第二测试点电连接，因此，软质电路板50上必然包含一端与液晶面板30的第一测试点电连接、另一端与硬质电路板40的第二测试点电连接的检测线，其中，液晶面板30相当于本申请权利要求1中的待测屏体，液晶面板30的第一测试点相当于待测屏体的屏体检测端，软质电路板50上的检测线相当于与屏体检测端电连接的屏体检测线，向硬质电路板40的第二测试点输入第二测试信号的设备相当于与屏体检测线的另一端电连接的第一检测设备；
硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的第一测试信号，该测试信号通过液晶面板上的低压差分信号输入接口进入液晶面板30，由于硬质电路板与液晶面板通过软质电路板电连接，因此，硬质电路板40上的低压差分信号接口408通过软质电路板50与液晶面板上的低压差分信号输入接口电连接，软质电路板50上必然包含一端与液晶面板上的低压差分信号输入接口电连接、另一端与硬质电路板40上的低压差分信号接口408电连接的检测线，其中，液晶面板上的低压差分信号输入接口相当于待测屏体的模组检测端，软质电路板50上的检测线相当于模组检测线，向硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入第一测试信号的设备相当于与模组检测线的另一端电连接的第二检测设备。
因此，权利要求1要求保护的技术方案与对比文件1的技术方案之间的区别技术特征为：对比文件1中的屏体检测线与待测屏体的屏体检测端电连接，模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接；然而，本申请权利要求1中屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，模组检测线与待测屏体的模组检测端压接，且所述压接是通过承载台以及包括屏体压头和模组压头的压头实现的，所述压头与承载台相对设置且位于承载台上方，屏体压头包括两部分，分列于模组压头两侧。通过所述屏体压头将屏体检测线一端压接至待测屏体的屏体检测端进行检测；通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测。
基于上述区别特征可以确定，权利要求1相对于对比文件1实际解决的技术问题是如何保证检测时的良好导通。
对比文件2公开了一种显示屏点亮检测治具，与本申请同属于液晶检测技术领域，并具体公开了（参见说明书第2-35段、附图1-3）：本实用新型提供了一种显示屏点亮检测治具，其包括压块41、印刷电路板1和连接装置 3，连接装置3分别与印刷电路板1、显示屏2的覆晶薄膜21连接，压块41用于挤压连接装置3，以使连接装置3分别与印刷电路板1和显示屏2的覆晶薄膜21实现压接，连接装置3 为一线路连接板31，其一端与印刷电路板1电性连接，其另一端与显示屏2的覆晶薄膜21电性连接。这里的线路连接板31可以为软性电路板（Flexible Printed Circuit Board）（参见说明书第25段）。
如图3所示，压接装置4包括：压块41、压接平台42、压块支撑板43、及配重块44，压块41的一端与压块支撑板43固定连接，配重块44设置于压块支撑板43上，压块支撑板 43与压接平台42通过支撑弹簧和金属柱45连接，这里的支撑弹簧套接在金属柱上；印刷电路板1、连接装置3及显示屏2的覆晶薄膜21设置于压块41压接面与压接平台42之间，这里的压块采用亚克力材料制成，可以在压块的下端面设置一凸起的压接平面，通过挤压配重块44使压块41更好地对软性电路板进行挤压，实现各线路的准确连接，使点亮效率更高（参见说明书第26段）。
下面对照图2对显示屏的覆晶薄膜的检测过程具体说明如下：（1）将连接器32的PIN与印刷电路板1上的PIN对焊；（2）将软性电路板的一端固定在连接器32上；（3）把带有显示屏2所邦覆晶薄膜21的一端PIN对PIN通过压块42压在软性电路板的下面；（4）通电，即可实现显示屏2的点亮（参见说明书第27-31段）。
其中，压接平台42相当于承载台，压块41相当于模组压头，压块与压接平台相对设置且位于压接平台上方，相当于公开了压头与承载台相对设置且位于承载台上方；把显示屏2的覆晶薄膜21的PIN通过压块42压在软性电路板的下面，软性电路板与显示屏2的覆晶薄膜21的PIN电连接，软性电路板必然包括与PIN电连接的检测线，因而，软性电路板上的检测线相当于模组检测线，覆晶薄膜21的PIN相当于待测屏体的模组检测端，以上内容相当于公开了模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。即，对比文件2公开了权利要求1中的特征“包括承载台及压头，所述压头与承载台相对设置且位于所述承载台上方，所述模组压头用于将一模组检测线与待测屏体的模组检测端压接，通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测”，且对比文件2给出了通过承载台以及压头实现检测端与检测线的压接以保证检测时的良好导通的技术启示。因此，本领域技术人员在面对如何保证检测时的良好导通的技术问题时，容易想到将对比文件2中的承载台和压头的结构用于对比文件1中从而对待测屏体上的模组检测端和屏体检测端与软性电路板上的模组检测线和屏体检测线进一步压接，以保证其良好的导通。由于对比文件1中检测端包括模组检测端和屏体检测端两者，压头适应性的修改为包括屏体压头和模组压头是本领域的常规设计；对比文件1中未明确公开模组检测端在待测屏体上的位置，然而，对比文件1中硬质电路板上的第二测试点位于硬质电路板的两侧，相应地，与第二测试点电连接的屏体检测端位于待测屏体的两侧，硬质电路板上的低压差分信号接口位于两端的第二测试点之间，因此，相应地将与硬质电路板上的低压差分信号接口电连接的模组检测端设置于两端的屏体检测端之间是本领域技术人员的常规设计，在此基础上，将屏体压头适应性的设置为包括两部分且分列于模组压头两侧也是本领域的常规设计。
综上，在对比文件1的基础上结合对比文件2以及本领域的公知常识得出该权利要求1的技术方案，对本技术领域的技术人员来说是显而易见的，因此该权利要求所要求保护的技术方案不具有突出的实质性特点和显著的进步，因而不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
2.权利要求2不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
权利要求2引用了权利要求1，其附加技术特征为：所述压头还包括一顶板，所述屏体压头和模组压头设置于所属顶板上并朝向所述承载台。
对比文件2公开了：压接装置4包括：压块41、压接平台42、压块支撑板43、及配重块44，压块41（相当于模组压头）的一端与压块支撑板43（相当于顶板）固定连接，印刷电路板1、连接装置3及显示屏2的覆晶薄膜21设置于压块41压接面与压接平台42之间（参见说明书第26段）。并且，将对比文件2中的压接装置用于对比文件1中时，适应性地在顶板上设置屏体压头是本领域的常规设计。因此，在其引用的权利要求不具备创造性的基础上，该权利要求请求保护的技术方案也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
3.权利要求3、4不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
权利要求3、4的附加技术特征为：所述模组压头与屏体压头之间存在小于2mm的间隙；所述压头还包括一模组压头微调器，以调整模组压头的位置。
然而，为了适应不同的待测屏体以及更准确的压接，设置间隙和微调器以用于压头的位置调整是本领域的常规技术手段。因此，在其引用的权利要求不具备创造性的基础上，上述权利要求请求保护的技术方案也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
4.权利要求5不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
权利要求5引用了权利要求1，其附加技术特征为：所述压头与承载台能够相对运动，所述屏体检测结构还包括一承载台微调器，用以调整承载台的位置。
对比文件2公开了：印刷电路板1、连接装置3及显示屏2的覆晶薄膜21设置于压块41压接面与压接平台42之间，这里的压块采用亚克力材料制成，可以在压块的下端面设置一凸起的压接平面，通过挤压配重块44使压块41更好地对软性电路板进行挤压，实现各线路的准确连接，使点亮效率更高（参见说明书第26段），相当于公开了压头与承载台能够相对运动。为了更准确的对准以保证良好的压接，设置承载台微调器用以调整承载台的位置是本领域的常规技术手段。因此，在其引用的权利要求不具备创造性的基础上，该权利要求请求保护的技术方案也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
5.权利要求6不具有专利法第22条第3款规定的创造性。
独立权利要求6请求保护一种屏体检测方法，对比文件1公开了一种液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法，与本申请同属于液晶检测技术领域，具体公开的内容参见权利要求1的评述。
由对比文件1公开的上述内容可知：
通过该液晶模组，能够实现在产品画面出现不良时，理清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，因此，对比文件1公开了一种屏体检测方法。
由于液晶面板30在组立制程中未切断短路棒区域的测试引线，因此，在硬质电路板40的第二测试点输入液晶面板30所需的第二测试信号后，测试信号可通过软质电路板50和液晶面板30的第一测试点进入液晶面板30，使液晶面板30点亮以检测画面。即液晶面板30的第一测试点通过软质电路板50与硬质电路板40的第二测试点电连接，因此，软质电路板50上必然包含一端与液晶面板30的第一测试点电连接、另一端与硬质电路板40的第二测试点电连接的检测线，其中，液晶面板30相当于本申请权利要求6中的待测屏体，液晶面板30的第一测试点相当于待测屏体的屏体检测端，软质电路板50上的检测线相当于一端与屏体检测端电连接的屏体检测线，向硬质电路板40的第二测试点输入第二测试信号的设备相当于与屏体检测线的另一端电连接的第一检测设备；
可在硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的第一测试信号，该测试信号通过液晶面板上的低压差分信号输入接口进入液晶面板30，由于硬质电路板与液晶面板通过软质电路板电连接，因此，硬质电路板40上的低压差分信号接口408通过软质电路板50与液晶面板上的低压差分信号输入接口电连接，软质电路板50上必然包含一端与液晶面板上的低压差分信号输入接口电连接、另一端与硬质电路板40上的低压差分信号接口408电连接的检测线，其中，液晶面板上的低压差分信号输入接口相当于待测屏体的模组检测端，软质电路板50上的检测线相当于一端与模组检测端连接的模组检测线，向硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入第一测试信号的设备相当于与模组检测线的另一端电连接的第二检测设备；
步骤104：判断输入所述第二测试信号后液晶面板是否显示不良，若显示不良则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷，否则判断为液晶模组制程造成的缺陷，相当于公开了“分析检测结果，判断所述待测屏体是否正常”。
因此，权利要求6要求保护的技术方案与对比文件1的技术方案之间的区别技术特征为：（1）对比文件1中的屏体检测线与待测屏体的屏体检测端电连接，模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接；然而，本申请权利要求6中将待测屏体放置于所述承载台上，通过屏体压头将屏体检测线与待测屏体的屏体检测端压接，通过模组压头将模组检测线与待测屏体的模组检测端压接。（2）对比文件1中先进行模组检测再进行屏体检测，而本申请权利要求6中先进行屏体检测再进行模组检测。
基于上述区别特征可以确定，权利要求6相对于对比文件1实际解决的技术问题是（1）如何保证检测时的良好导通；（2）屏体检测和模组检测的检测顺序。
对于区别（1），对比文件2公开了一种显示屏点亮检测治具，并具体公开了（参见说明书第2-35段、附图1-3）：本实用新型提供了一种显示屏点亮检测治具，其包括压块41、印刷电路板1和连接装置 3，连接装置3分别与印刷电路板1、显示屏2的覆晶薄膜21连接，压块41用于挤压连接装置3，以使连接装置3分别与印刷电路板1和显示屏2的覆晶薄膜21实现压接，连接装置3 为一线路连接板31，其一端与印刷电路板1电性连接，其另一端与显示屏2的覆晶薄膜21电性连接。这里的线路连接板31可以为软性电路板（Flexible Printed Circuit Board）（参见说明书第25段）。
如图3所示，压接装置4包括：压块41、压接平台42、压块支撑板43、及配重块44，压块41的一端与压块支撑板43固定连接，配重块44设置于压块支撑板43上，压块支撑板 43与压接平台42通过支撑弹簧和金属柱45连接，这里的支撑弹簧套接在金属柱上；印刷电路板1、连接装置3及显示屏2的覆晶薄膜21设置于压块41压接面与压接平台42之间，这里的压块采用亚克力材料制成，可以在压块的下端面设置一凸起的压接平面，通过挤压配重块44使压块41更好地对软性电路板进行挤压，实现各线路的准确连接，使点亮效率更高（参见说明书第26段）。
下面对照图2对显示屏的覆晶薄膜的检测过程具体说明如下。（1）将连接器32的PIN与印刷电路板1上的PIN对焊；（2）将软性电路板的一端固定在连接器32上；（3）把带有显示屏2所邦覆晶薄膜21的一端PIN对PIN通过压块42压在软性电路板的下面；（4）通电，即可实现显示屏2的点亮（参见说明书第27-31段）。
其中，压接平台42相当于承载台，压块41相当于模组压头，把显示屏2的覆晶薄膜21的PIN通过压块42压在软性电路板的下面，软性电路板与显示屏2的覆晶薄膜21的PIN电连接，软性电路板必然包括与PIN电连接的检测线，因而，软性电路板上的检测线相当于模组检测线，覆晶薄膜21的PIN相当于待测屏体的模组检测端，以上内容相当于公开了“将待测屏体放置于所述承载台上；通过所述模组压头将模组检测线一端压接至待测屏体的模组检测端进行检测”，且对比文件2给出了通过承载台以及压头实现检测端与检测线的压接以保证检测时的良好导通的技术启示。因此，本领域技术人员在面对如何保证检测时的良好导通的技术问题时，容易想到将对比文件2中的承载台和压头的结构用于对比文件1中从而对待测屏体上的模组检测端和屏体检测端与软性电路板上的模组检测线和屏体检测线进一步压接，以保证其良好的导通。由于对比文件1中检测端包括模组检测端和屏体检测端两者，压头适应性的修改为包括屏体压头和模组压头是本领域的常规设计。
对于区别（2），在对比文件1中，先进行模组检测，如果画面不良，则进行屏体检测，若显示不良则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷，否则判断为液晶模组制程造成的缺陷（参见说明书第0067段）。如果将对比文件1中的模组检测和屏体检测顺序颠倒，即先进行屏体检测，再进行模组检测，如果屏体检测画面良好，模组检测显示不良，则判断为液晶模组制程造成的缺陷，如果屏体检测画面不良，则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷。即，本领域技术人员知晓，对比文件1中的模组检测步骤和屏体检测步骤的执行顺序可以互换，互换后并不影响检测结果。本领域技术人员根据实际需要将对比文件1中的模组检测步骤和屏体检测步骤的执行顺序颠倒，是本领域的常规选择。另外，本申请说明书第44段中也公开了：上述步骤S303和步骤S304也是可以颠倒的。
综上，在对比文件1的基础上结合对比文件2以及本领域的公知常识得出该权利要求6的技术方案，对本技术领域的技术人员来说是显而易见的，因此该权利要求所要求保护的技术方案不具有突出的实质性特点和显著的进步，因而不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
6.权利要求7-9不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
权利要求7-9的附加技术特征为：所述第二检测设备包括计算机，通过结合检测卡进行检测；所述第二检测设备为检测芯片或单片机；所述第一检测设备为信号产生器。
对比文件1中的向硬质电路板40的第二测试点输入第二测试信号的设备相当于第一检测设备；向硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入第一测试信号的设备相当于第二检测设备。对比文件1中未公开第一检测设备和第二检测设备的类型，然而，结合检测卡的计算机、检测芯片、单片机、信号产生器等都是本领域常规的能够输出测试信号的检测设备，使用结合检测卡的计算机、检测芯片、单片机、信号产生器作为检测设备是本领域的常规选择。因此，在其引用的权利要求不具备创造性的基础上，该权利要求请求保护的技术方案也不具备专利法第22条第3款规定的创造性。
综上所述，权利要求1-9不符合专利法第22条第3款关于创造性的规定。
（三）、针对复审请求人意见的答复
合议组认为：（1）首先，在本领域中，完成液晶模组制程后对液晶面板进行的测试通常称为模组检测。对比文件1说明书第59段公开了：在完成液晶模组制程后，需要对液晶面板30进行画面检测。可在硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的第一测试信号，该测试信号通过低压差分信号接口电路进入液晶面板30，以驱动液晶面板30显示，实现液晶面板30的画面检测。因此，对比文件1中完成液晶模组制程后对液晶面板30进行的画面检测可以称为模组检测，相应地，液晶面板上的低压差分信号输入接口相当于待测屏体的模组检测端，软质电路板50上的检测线相当于模组检测线，对比文件1公开了“模组检测线与待测屏体的模组检测端电连接”。其次，权利要求要求保护的技术方案中并未限定“屏体检测端与模组检测端可以并行模式进行，模组线路检测时不依赖于屏体线路检测，屏体检测端与模组检测端可分别独立进行测试”，也就是说仅根据权利要求中的限定无法将对比文件1中的模组检测与本申请的模组检测区别开来。第三，即便复审请求人在权利要求中限定了“屏体检测端与模组检测端可以并行模式进行，模组线路检测时不依赖于屏体线路检测，屏体检测端与模组检测端可分别独立进行测试”，由于对比文件1给出了既进行屏体检测又进行模组检测以厘清画面不良原因的技术启示，对比文件1还公开了模组检测的测试信号依次经过组立和模组两个制程形成的电路和结构，本领域技术人员在对比文件1的基础上，容易想到在模组检测中仅检测模组制程形成的电路和结构，以更好的厘清画面不良原因，这不需要付出创造性的劳动。（2）参见权利要求1的评述，基于权利要求1与对比文件1的区别特征可以确定，权利要求1相对于对比文件1来说实际解决的技术问题是如何保证检测时的良好导通。对比文件2给出了通过压块对软性电路板的挤压实现各线路的准确连接的技术启示。因此，本领域技术人员在面对如何保证检测时的良好导通的技术问题时，容易想到将对比文件2中的承载台和压头的结构用于对比文件1中从而对待测屏体上的模组检测端和屏体检测端与软性电路板上的模组检测线和屏体检测线进一步压接，以保证其良好的导通。由于对比文件1中检测端包括模组检测端和屏体检测端两者，压头适应性的修改为包括屏体压头和模组压头，将屏体压头适应性的设置为包括两部分且分列于模组压头两侧是本领域的常规设计。
因此，复审请求人的意见合议组不予支持。
三、决定
维持国家知识产权局于2018年04月02日做出的驳回该发明专利申请的决定。
复审请求人如对本决定不服，可以依据专利法第41条第2款的规定，自收到本决定之日起三个月内向北京知识产权法院起诉。
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